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旨在降低测试时间和测试功耗的扫描树设计研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
ACKNOWLEDGEMENTS第7-8页
CONTENTS第8-10页
List of Figures第10-11页
List of Tables第11-12页
List of Abbreviations第12-13页
Chapter 1 Introduction第13-24页
    1.1 Preliminaries第14-20页
        1.1.1 Fundamentals of scan test第15-17页
        1.1.2 Reducing test time of scan design第17-19页
        1.1.3 Test power problem第19-20页
    1.2 Motivations and Objectives第20-21页
    1.3 Contributions第21-22页
    1.4 Organizations第22-24页
Chapter 2 Literature Review第24-33页
    2.1 Basic Concepts of Scan Tree Design第24-27页
    2.2 Scan Tree Optimization for Test Time Reduction第27-30页
        2.2.1 Folding tree architecture第27-28页
        2.2.2 Extended compatibility technique第28页
        2.2.3 Two mode configurable scan tree第28-29页
        2.2.4 Vector modification scheme第29页
        2.2.5 Approximate compatibility technique第29-30页
    2.3 Low Power Scan Design第30-32页
        2.3.1 Clock scheme modification第30页
        2.3.2 Scan partitioning第30-31页
        2.3.3 Transition minimization第31页
        2.3.4 Transition blocking第31-32页
    2.4 Summary第32-33页
Chapter 3 Mathematical Model of Scan Tree Design第33-42页
    3.1 Basic Terms of Graph Theory Involved第33-34页
    3.2 Approximately Compatible Scan Tree Design第34-35页
    3.3 Model of Fully Compatible Scan Tree Design第35-37页
    3.4 Model of Approximately Compatible Scan Tree Design第37-41页
    3.5 Summary第41-42页
Chapter 4 Scan Tree Design Based on Compact Test Sets第42-57页
    4.1 Inverse Compatibility第42-47页
    4.2 Aggressive Compatibility第47-49页
    4.3 A Case Study第49-50页
    4.4 Complete Design Flow第50-51页
    4.5 Experimental Results第51-56页
    4.6 Summary第56-57页
Chapter 5 Power-Aware Scan Tree Design第57-66页
    5.1 Weighted Transition Model第57-58页
    5.2 Low-Power Q'-D Technique第58-60页
    5.3 Low-Power Q'-D in Scan Tree Design第60-63页
    5.4 Experimental Results第63-65页
    5.5 Summary第65-66页
Chapter 6 Conclusion第66-69页
    6.1 Conclusion第66-67页
    6.2 Suggestions for Future Work第67-69页
References第69-75页
Author’s Publications第75-76页

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