漏电保护专用集成电路测试系统的设计与实现
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 课题背景 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-16页 |
1.2.1 国外相关技术研究现状 | 第11-14页 |
1.2.2 国内相关技术研究现状 | 第14-16页 |
1.3 本论文主要研究目标和内容 | 第16-17页 |
1.3.1 研究目标 | 第16页 |
1.3.2 研究内容 | 第16-17页 |
1.4 本论文的组织结构 | 第17-18页 |
第二章 相关原理介绍 | 第18-25页 |
2.1 漏电相关原理介绍 | 第18-22页 |
2.1.1 漏电电流信号的类型 | 第18-19页 |
2.1.2 LW301 的组成及工作原理 | 第19-22页 |
2.2 漏电保护器的一般工作原理 | 第22-24页 |
2.3 本章小结 | 第24-25页 |
第三章 测试系统需求分析 | 第25-32页 |
3.1 测试系统需求 | 第25-31页 |
3.2 本章小结 | 第31-32页 |
第四章 系统概要设计 | 第32-34页 |
4.1 测试系统架构介绍 | 第32页 |
4.2 测试系统结构框图 | 第32-33页 |
4.3 本章小结 | 第33-34页 |
第五章 系统硬件设计与实现 | 第34-41页 |
5.1 测试系统硬件电路设计与实现 | 第34-40页 |
5.1.1 LW301 应用电路 | 第34-35页 |
5.1.2 测试信号产生系统 | 第35-36页 |
5.1.3 数模转换系统 | 第36-37页 |
5.1.4 控制电路系统 | 第37页 |
5.1.5 参数测试电路系统 | 第37-38页 |
5.1.6 信号控制和参数比较系统 | 第38-39页 |
5.1.7 显示系统 | 第39页 |
5.1.8 人机交互控制系统 | 第39-40页 |
5.2 本章小结 | 第40-41页 |
第六章 系统软件设计与实现 | 第41-66页 |
6.1 集成电路测试程序 | 第41-65页 |
6.1.1 信号波形产生程序的设计与实现 | 第41-45页 |
6.1.2 测试系统参数控制程序的设计与实现 | 第45-65页 |
6.2 本章小结 | 第65-66页 |
第七章 结论 | 第66-68页 |
7.1 本文的主要贡献 | 第66-67页 |
7.2 下一步工作的展望 | 第67-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
硕士期间取得的研究成果 | 第73-74页 |
附录 | 第74-79页 |