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漏电保护专用集成电路测试系统的设计与实现

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-18页
    1.1 课题背景第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-16页
        1.2.1 国外相关技术研究现状第11-14页
        1.2.2 国内相关技术研究现状第14-16页
    1.3 本论文主要研究目标和内容第16-17页
        1.3.1 研究目标第16页
        1.3.2 研究内容第16-17页
    1.4 本论文的组织结构第17-18页
第二章 相关原理介绍第18-25页
    2.1 漏电相关原理介绍第18-22页
        2.1.1 漏电电流信号的类型第18-19页
        2.1.2 LW301 的组成及工作原理第19-22页
    2.2 漏电保护器的一般工作原理第22-24页
    2.3 本章小结第24-25页
第三章 测试系统需求分析第25-32页
    3.1 测试系统需求第25-31页
    3.2 本章小结第31-32页
第四章 系统概要设计第32-34页
    4.1 测试系统架构介绍第32页
    4.2 测试系统结构框图第32-33页
    4.3 本章小结第33-34页
第五章 系统硬件设计与实现第34-41页
    5.1 测试系统硬件电路设计与实现第34-40页
        5.1.1 LW301 应用电路第34-35页
        5.1.2 测试信号产生系统第35-36页
        5.1.3 数模转换系统第36-37页
        5.1.4 控制电路系统第37页
        5.1.5 参数测试电路系统第37-38页
        5.1.6 信号控制和参数比较系统第38-39页
        5.1.7 显示系统第39页
        5.1.8 人机交互控制系统第39-40页
    5.2 本章小结第40-41页
第六章 系统软件设计与实现第41-66页
    6.1 集成电路测试程序第41-65页
        6.1.1 信号波形产生程序的设计与实现第41-45页
        6.1.2 测试系统参数控制程序的设计与实现第45-65页
    6.2 本章小结第65-66页
第七章 结论第66-68页
    7.1 本文的主要贡献第66-67页
    7.2 下一步工作的展望第67-68页
致谢第68-69页
参考文献第69-73页
硕士期间取得的研究成果第73-74页
附录第74-79页

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