优化SoC测试性能的测试数据重组技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 致谢 | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·研究背景及意义 | 第11-13页 |
| ·SoC 测试背景 | 第11-12页 |
| ·SoC 测试的意义 | 第12-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-16页 |
| ·论文研究的内容与章节安排 | 第16-18页 |
| 第二章 SoC 测试的相关理论 | 第18-28页 |
| ·测试理论基础 | 第18-22页 |
| ·测试流程 | 第18-19页 |
| ·故障模型 | 第19-21页 |
| ·测试的分类 | 第21-22页 |
| ·测试数据压缩技术 | 第22-24页 |
| ·低功耗 SoC 测试 | 第24-26页 |
| ·测试功耗增加的原因 | 第25页 |
| ·低功耗测试方法 | 第25-26页 |
| ·系统级测试优化技术 | 第26-28页 |
| 第三章 基于多扫描链的低功耗扫描链重组技术 | 第28-41页 |
| ·预备知识介绍 | 第28-33页 |
| ·基本定义 | 第28-31页 |
| ·EPRL 编码方案 | 第31-33页 |
| ·理论分析 | 第33-35页 |
| ·熵与扫描切片长度的关系 | 第33-34页 |
| ·熵与扫描切片排列次序的关系 | 第34-35页 |
| ·扫描链的划分和重组 | 第35-38页 |
| ·扫描链的划分 | 第35-37页 |
| ·扫描链的重组 | 第37-38页 |
| ·实验结果及分析 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 基于测试集部分复用的芯核并行测试方案 | 第41-52页 |
| ·SoC 系统多核并行测试 | 第41-47页 |
| ·测试调度 | 第42-43页 |
| ·合并测试集 | 第43-46页 |
| ·数据合并的约束条件 | 第46-47页 |
| ·多核并行测试结构 | 第47-49页 |
| ·多核并行测试的原理 | 第47-48页 |
| ·传输控制单元结构 | 第48-49页 |
| ·实验结果及分析 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 总结与展望 | 第52-54页 |
| ·全文总结 | 第52-53页 |
| ·进一步工作 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第57-58页 |
