| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 插图索引 | 第10-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-23页 |
| ·VLSI 简介及其测试 | 第12-13页 |
| ·N-detection 测试介绍 | 第13-21页 |
| ·固定故障模型 | 第14-15页 |
| ·固定故障的测试产生和故障模拟 | 第15-18页 |
| ·N-detection 测试产生 | 第18页 |
| ·N-detection 测试集的应用 | 第18-21页 |
| ·本文研究目的和意义 | 第21-22页 |
| ·本文的主要工作 | 第22页 |
| ·本文的组织结构 | 第22-23页 |
| 第2章 组合电路的测试集压缩技术 | 第23-38页 |
| ·单固定故障压缩 | 第23-25页 |
| ·静态压缩 | 第25-28页 |
| ·动态压缩 | 第28页 |
| ·基于独立故障的测试压缩 | 第28-36页 |
| ·故障关系分类 | 第28-29页 |
| ·判断独立关系的方法 | 第29-31页 |
| ·独立故障图和独立矩阵 | 第31-33页 |
| ·独立度和相似性 | 第33-34页 |
| ·独立故障压缩算法 | 第34-36页 |
| ·组合逻辑电路的最小测试集 | 第36-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第3章 一种高效的 N-detection 测试集产生方法 | 第38-50页 |
| ·N-detection 测试集大小的下界 | 第38-39页 |
| ·M-detection 测试集的产生 | 第39-43页 |
| ·Atalanta 和 HOPE 软件介绍 | 第39-41页 |
| ·M-detection 测试集的产生方法 | 第41-43页 |
| ·用 ILP 获得最小的 N-detection 测试集 | 第43-48页 |
| ·ILP 及其求解工具介绍 | 第43-45页 |
| ·产生最小 N-detection 测试集问题的形式化描述 | 第45-47页 |
| ·约束矩阵 A 的产生 | 第47-48页 |
| ·实验结果 | 第48-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第4章 N-detection 测试产生方法的优化 | 第50-58页 |
| ·M-detection 测试集的优化 | 第50-53页 |
| ·难测故障 | 第50-51页 |
| ·难测故障的测试产生 | 第51-53页 |
| ·约束矩阵的化简 | 第53-54页 |
| ·实验结果与分析 | 第54-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 附录 A 攻读硕士期间发表的论文 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
