OTP存储器编程与测试系统的设计技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题的研究意义及背景 | 第9-11页 |
| ·国内外发展现状与面临的挑战 | 第11-12页 |
| ·课题的主要设计目标和研究内容 | 第12-13页 |
| ·论文的总体结构 | 第13-15页 |
| 第二章 64Kb OTP存储器介绍 | 第15-28页 |
| ·OTP存储器介绍 | 第15-18页 |
| ·64Kb OTP存储器总体介绍 | 第18-19页 |
| ·存储单元结构 | 第19-20页 |
| ·芯片初始化及其时序要求 | 第20-23页 |
| ·存储器读出时序 | 第23-24页 |
| ·存储器编程时序 | 第24-25页 |
| ·存储器的可测性设计 | 第25-28页 |
| 第三章 OTP存储器测试基本原理 | 第28-38页 |
| ·OTP存储器的失效模式 | 第28-30页 |
| ·OTP存储单元的失效 | 第28页 |
| ·译码器的失效 | 第28-29页 |
| ·读出电路、编程电路和输入输出电路的失效 | 第29页 |
| ·控制电路的失效 | 第29-30页 |
| ·半导体存储器的测试 | 第30-35页 |
| ·存储器直接存取测试 | 第31-32页 |
| ·存储器内建自测试(BIST) | 第32-33页 |
| ·片上微处理器测试 | 第33-35页 |
| ·存储器芯片测试的外围电路 | 第35-38页 |
| ·电流检测电路 | 第35-36页 |
| ·高低压选择电路 | 第36-38页 |
| 第四章 OTP存储器编程与测试系统的设计 | 第38-58页 |
| ·Cortex-M3内核 | 第38-39页 |
| ·STM32F系列处理器 | 第39-40页 |
| ·通用输入/输出口配置 | 第40-41页 |
| ·STM32的复位和系统时钟配置 | 第41-44页 |
| ·PWM波形的产生 | 第44-46页 |
| ·延迟函数的设计 | 第46-47页 |
| ·LED灯的控制程序 | 第47-48页 |
| ·USART的应用 | 第48-50页 |
| ·OTP存储器初始化程序的实现 | 第50-52页 |
| ·读出函数的实现 | 第52-54页 |
| ·编程函数的实现 | 第54-55页 |
| ·OTP存储器的编程方法 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 OTP存储器的测试及结果分析 | 第58-68页 |
| ·软硬件测试平台 | 第58-59页 |
| ·OTP存储器的测试 | 第59-64页 |
| ·单个反熔丝单元的测试 | 第60-61页 |
| ·OTP存储器全“0”测试 | 第61页 |
| ·OTP存储器全“1”测试 | 第61-62页 |
| ·OTP存储器的棋盘格测试 | 第62-63页 |
| ·OTP存储器的控制电路测试 | 第63页 |
| ·OTP存储器的参数测试 | 第63-64页 |
| ·OTP存储器的失效分析 | 第64-67页 |
| ·双向数据口D0的失效 | 第64-65页 |
| ·部分地址的存储单元失效 | 第65-66页 |
| ·存储单元的误读 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 结论 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第72页 |
