基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 插图索引 | 第10-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-17页 |
| ·测试基本原理与分析 | 第13-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-15页 |
| ·本文研究的目的和意义 | 第15页 |
| ·本文的主要工作和组织结构 | 第15-17页 |
| 第2章 可测试性设计与测试方法研究 | 第17-36页 |
| ·故障及故障检测 | 第17-21页 |
| ·故障分析及分类 | 第17-18页 |
| ·故障模型分析 | 第18-21页 |
| ·故障模拟算法 | 第21-23页 |
| ·串行故障模拟 | 第22页 |
| ·微分故障模拟 | 第22-23页 |
| ·测试生成方法 | 第23-29页 |
| ·测试生成基础 | 第23-24页 |
| ·组合电路测试生成方法 | 第24-29页 |
| ·可测性设计 | 第29-35页 |
| ·全扫描设计 | 第30-33页 |
| ·内建自测试 | 第33-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第3章 基于扫描链阻塞技术的低费用方法 | 第36-44页 |
| ·引言 | 第36页 |
| ·扫描链阻塞技术 | 第36-37页 |
| ·扫描链阻塞技术低费用分析 | 第37-41页 |
| ·基于扫描链阻塞技术的相容性压缩方法 | 第41-42页 |
| ·实验结果与分析 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第4章 基于扫描链轮流捕获方案低费用方法 | 第44-53页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·扫描链轮流捕获技术 | 第44-46页 |
| ·基于该方案的扫描链重排序方法 | 第46-50页 |
| ·扫描链重排序方法 | 第46-47页 |
| ·基于扫描链轮流捕获方案重排序方法 | 第47-50页 |
| ·实验结果与分析 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的论文和参加的项目 | 第60页 |
