IC参数自动测试系统关键技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·集成电路自动测试系统发展过程及现状 | 第9-11页 |
| ·本课题研究意义 | 第11页 |
| ·本课题来源 | 第11-12页 |
| ·本课题研究内容及目标 | 第12-13页 |
| 第二章 集成电路测试技术 | 第13-22页 |
| ·集成电路测试分类 | 第13-14页 |
| ·集成电路参数测试技术 | 第14-20页 |
| ·集成电路直流参数测试技术 | 第14-18页 |
| ·集成电路交流参数测试技术 | 第18-20页 |
| ·集成电路自动测试系统 | 第20-21页 |
| ·本章总结 | 第21-22页 |
| 第三章 IC参数自动测试系统架构 | 第22-34页 |
| ·IC参数自动测试系统框架 | 第22-26页 |
| ·IC参数自动测试系统硬件架构 | 第22-23页 |
| ·IC参数自动测试系统软件架构 | 第23-26页 |
| ·IC参数自动测试系统功能模块 | 第26-31页 |
| ·时间测量单元(TMU) | 第26-27页 |
| ·任意波形发生器(AWG) | 第27-28页 |
| ·波形数字化仪(DIG) | 第28-29页 |
| ·精密测量单元(PMU) | 第29页 |
| ·差分电压表(DVM) | 第29-30页 |
| ·信号均方根值单元(RMS) | 第30-31页 |
| ·IC参数自动测试系统通信总线 | 第31-33页 |
| ·PCI通信总线 | 第31-32页 |
| ·自定义通信总线 | 第32-33页 |
| ·本章总结 | 第33-34页 |
| 第四章 IC参数自动测试系统关键技术研究 | 第34-68页 |
| ·时间测量单元研究 | 第34-43页 |
| ·时间测量方法 | 第35-38页 |
| ·时间测量单元设计 | 第38-39页 |
| ·ECL高速逻辑设计 | 第39-40页 |
| ·高速比较器抖动消除设计 | 第40-43页 |
| ·波形发生与信号采集单元研究 | 第43-47页 |
| ·波形发生器设计 | 第43-45页 |
| ·信号采集单元设计 | 第45-47页 |
| ·精密测量单元研究 | 第47-55页 |
| ·开尔文连接法 | 第47-48页 |
| ·精密测量单元设计 | 第48-55页 |
| ·系统通信总线研究 | 第55-64页 |
| ·PCI总线设计 | 第55-58页 |
| ·自定义总线设计 | 第58-64页 |
| ·测试指令函数研究 | 第64-67页 |
| ·本章总结 | 第67-68页 |
| 第五章 IC参数自动测试系统功能单元实现与验证 | 第68-85页 |
| ·时间测量功能单元软硬件实现与验证 | 第68-78页 |
| ·TDC-GP2时间测量实现与验证 | 第68-74页 |
| ·计数器直接计数法实现与验证 | 第74-78页 |
| ·波形发生与信号采集功能单元实现与验证 | 第78-84页 |
| ·任意波形发生器实现与验证 | 第78-80页 |
| ·信号采集实现与验证 | 第80-84页 |
| ·本章总结 | 第84-85页 |
| 第六章 结论和展望 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-89页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第89页 |
