基于电磁扫描的高密度电路板故障器件检测技术
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景和意义 | 第7-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10页 |
| ·本文工作 | 第10-11页 |
| ·论文结构 | 第11-13页 |
| 第二章 PCB 板检测方法及相关图像处理技术 | 第13-25页 |
| ·常用的 PCB 板检测方式 | 第13-14页 |
| ·电磁扫描技术 | 第14-16页 |
| ·图像处理的常用方法及数学形态学 | 第16-18页 |
| ·OpenCV 技术 | 第18-24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 第三章 基于电磁扫描的高密度电路板检测方案设计 | 第25-31页 |
| ·检测方案设计 | 第25页 |
| ·关键技术研究 | 第25-30页 |
| ·异常频率点检测 | 第26页 |
| ·异常区域检测 | 第26-28页 |
| ·疑似故障器件判定 | 第28-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第四章 异常区域检测算法设计 | 第31-47页 |
| ·云图对比 | 第31-35页 |
| ·云图有效区域提取 | 第31-32页 |
| ·差影法的改进及其在云图对比中的应用 | 第32-34页 |
| ·基于阈值法的异常区域的检测 | 第34-35页 |
| ·异常区域处理 | 第35-42页 |
| ·开运算、闭运算概述 | 第35-37页 |
| ·异常区域处理方案设计 | 第37-38页 |
| ·异常区域处理实现 | 第38-42页 |
| ·应用举例 | 第42-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第五章 疑似故障器件判定算法设计 | 第47-53页 |
| ·算法的设计 | 第47-49页 |
| ·算法原理 | 第47-48页 |
| ·判定算法 | 第48-49页 |
| ·元器件的建模和判定算法的实现 | 第49-50页 |
| ·实验仿真 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第六章 结束语 | 第53-55页 |
| ·总结 | 第53-54页 |
| ·展望 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 研究成果 | 第59-60页 |