基于电磁扫描的高密度电路板故障器件检测技术
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·研究背景和意义 | 第7-10页 |
·国内外研究现状 | 第10页 |
·本文工作 | 第10-11页 |
·论文结构 | 第11-13页 |
第二章 PCB 板检测方法及相关图像处理技术 | 第13-25页 |
·常用的 PCB 板检测方式 | 第13-14页 |
·电磁扫描技术 | 第14-16页 |
·图像处理的常用方法及数学形态学 | 第16-18页 |
·OpenCV 技术 | 第18-24页 |
·小结 | 第24-25页 |
第三章 基于电磁扫描的高密度电路板检测方案设计 | 第25-31页 |
·检测方案设计 | 第25页 |
·关键技术研究 | 第25-30页 |
·异常频率点检测 | 第26页 |
·异常区域检测 | 第26-28页 |
·疑似故障器件判定 | 第28-30页 |
·小结 | 第30-31页 |
第四章 异常区域检测算法设计 | 第31-47页 |
·云图对比 | 第31-35页 |
·云图有效区域提取 | 第31-32页 |
·差影法的改进及其在云图对比中的应用 | 第32-34页 |
·基于阈值法的异常区域的检测 | 第34-35页 |
·异常区域处理 | 第35-42页 |
·开运算、闭运算概述 | 第35-37页 |
·异常区域处理方案设计 | 第37-38页 |
·异常区域处理实现 | 第38-42页 |
·应用举例 | 第42-46页 |
·小结 | 第46-47页 |
第五章 疑似故障器件判定算法设计 | 第47-53页 |
·算法的设计 | 第47-49页 |
·算法原理 | 第47-48页 |
·判定算法 | 第48-49页 |
·元器件的建模和判定算法的实现 | 第49-50页 |
·实验仿真 | 第50-52页 |
·小结 | 第52-53页 |
第六章 结束语 | 第53-55页 |
·总结 | 第53-54页 |
·展望 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
研究成果 | 第59-60页 |