NOR闪存读出不稳定性问题的研究与解决
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·测试理念及测试分类 | 第8-9页 |
| ·测试内容及测试流程 | 第9-11页 |
| ·研究工作及创新特点 | 第11-12页 |
| ·已知文献综述 | 第12-13页 |
| 第二章 存储器测试研究基础 | 第13-29页 |
| ·测试系统 | 第15-19页 |
| ·测试系统的分类 | 第15-16页 |
| ·测试系统的内部结构 | 第16-19页 |
| ·重要测试参数 | 第19-21页 |
| ·建立时间（Setup Time） | 第19页 |
| ·保持时间(Hold Time) | 第19-20页 |
| ·传输延迟 | 第20页 |
| ·输出使能时间 | 第20-21页 |
| ·测试周期，输入数据及其波型 | 第21-24页 |
| ·输入数据 | 第21-22页 |
| ·输入信号格式 | 第22-23页 |
| ·输入信号时序 | 第23-24页 |
| ·测试向量 | 第24-27页 |
| ·行扫描(X-FAST) | 第24-25页 |
| ·列扫描(Y-FAST) | 第25页 |
| ·行进扫描(ROW-MARCH) | 第25-27页 |
| ·测试基本规则 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 NOR闪存读出不稳定问题的研究 | 第29-38页 |
| ·NOR 闪存读出不稳定问题 | 第29-30页 |
| ·NOR 闪存产品读操作详解 | 第30-33页 |
| ·读操作的管脚 | 第30-31页 |
| ·读操作的时序要求 | 第31页 |
| ·读操作的时序图 | 第31-32页 |
| ·产品上电过程 | 第32-33页 |
| ·NOR 闪存读出不稳定问题分析与研究 | 第33-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 输出负载的分类与分析 | 第38-49页 |
| ·电容负载 | 第38-39页 |
| ·复合负载 | 第39-40页 |
| ·电流负载 | 第40-44页 |
| ·终端电压负载 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-49页 |
| 第五章 结论与展望 | 第49-51页 |
| ·结论 | 第49-50页 |
| ·展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 附录 | 第53-55页 |
| 攻读硕士学位间发表的论文 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
