基于SAT的通路时延故障测试生成技术的研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 1 引言 | 第10-17页 |
| ·本文研究背景和意义 | 第10-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·国外研究现状 | 第13-14页 |
| ·国内研究现状 | 第14-15页 |
| ·本文主要工作及结构安排 | 第15-17页 |
| ·主要工作 | 第15页 |
| ·结构安排 | 第15-17页 |
| 2 时延故障测试简介 | 第17-28页 |
| ·时延测试概述 | 第17-20页 |
| ·时延故障测试原理 | 第17-19页 |
| ·时延故障模型 | 第19-20页 |
| ·通路时延故障模型 | 第20-28页 |
| ·基本概念 | 第21-22页 |
| ·通路时延故障测试的分类 | 第22-28页 |
| 3 基于SAT的通路时延故障测试 | 第28-43页 |
| ·布尔可满足性问题 | 第28-31页 |
| ·概述 | 第28-29页 |
| ·基本概念 | 第29-30页 |
| ·DPLL算法构架 | 第30-31页 |
| ·基于SAT的时延故障测试生成 | 第31-40页 |
| ·多值逻辑 | 第32-34页 |
| ·组合电路的公式化方法 | 第34-38页 |
| ·测试生成条件 | 第38-40页 |
| ·实验结果分析 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 4 基于SAT的跳变通路时延故障测试生成 | 第43-54页 |
| ·跳变故障简介 | 第43-44页 |
| ·跳变通路时延故障模型 | 第44-49页 |
| ·跳变通路时延故障模型的提出动机 | 第44-46页 |
| ·跳变通路时延故障模型的定义 | 第46-47页 |
| ·与通路时延故障比较 | 第47-49页 |
| ·基于SAT的跳变通路时延故障测试生成 | 第49-51页 |
| ·测试生成条件及算法描述 | 第49-50页 |
| ·实例分析 | 第50-51页 |
| ·实验结果分析 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 5 总结和展望 | 第54-57页 |
| ·全文总结 | 第54-55页 |
| ·工作展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 作者简历 | 第61-63页 |
| 学位论文数据集 | 第63页 |
