| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 插图索引 | 第9-10页 |
| 附表索引 | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| ·研究背景及意义 | 第11-13页 |
| ·国内外文献综述 | 第13-16页 |
| ·研究内容及结构安排 | 第16-18页 |
| 第2章 相关概念及基本知识 | 第18-25页 |
| ·延迟测试 | 第18-19页 |
| ·组合电路的测试应用 | 第18-19页 |
| ·时序电路的测试应用 | 第19页 |
| ·延迟故障模型 | 第19-21页 |
| ·转换故障模型 | 第20页 |
| ·门延迟故障模型 | 第20-21页 |
| ·路径延迟故障模型 | 第21页 |
| ·路径延迟故障分类 | 第21-25页 |
| ·单路径可敏化延迟故障 | 第22页 |
| ·强健可测路径延迟故障 | 第22-23页 |
| ·非强健可测路径延迟故障 | 第23-25页 |
| 第3章 K 条最长可测路径选择 | 第25-42页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·基本术语定义 | 第25-26页 |
| ·路径选择的预处理 | 第26-33页 |
| ·broadside 测试模式 | 第26-27页 |
| ·bounded delay 模型 | 第27-28页 |
| ·u 线及 b-f 对 | 第28页 |
| ·电路段的划分 | 第28-29页 |
| ·基于 bounded delay 模型的 u 线 | 第29-30页 |
| ·基于 bounded delay 模型的 b-f 对 | 第30-33页 |
| ·路径选择算法 | 第33-39页 |
| ·路径选择的算法思想 | 第33-34页 |
| ·搜索的剪枝策略 | 第34-35页 |
| ·到输出最长路径的计算 | 第35-36页 |
| ·路径选择具体算法 | 第36-37页 |
| ·路径选择加速策略 | 第37-39页 |
| ·实验结果 | 第39-41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| 第4章 延迟故障测试生成及压缩 | 第42-57页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·ATPG 算法 | 第42-47页 |
| ·FAN 算法的基本思想 | 第43-44页 |
| ·FAN 算法的基本流程 | 第44-45页 |
| ·小延迟故障测试生成 | 第45-47页 |
| ·测试压缩 | 第47-52页 |
| ·故障模拟 | 第47-48页 |
| ·基于可控性的影响锥计算 | 第48-49页 |
| ·测试压缩的基本定理 | 第49-50页 |
| ·测试压缩算法 | 第50-52页 |
| ·实验结果 | 第52-56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |