| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 插图索引 | 第10-12页 |
| 附表索引 | 第12-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-20页 |
| ·集成电路测试 | 第13-15页 |
| ·可测试性设计 | 第15-19页 |
| ·本文主要工作与论文结构 | 第19-20页 |
| 第2章 集成电路测试基本理论 | 第20-39页 |
| ·数字集成电路测试基本理论 | 第20-31页 |
| ·故障和故障模型 | 第20-24页 |
| ·测试生成 | 第24-27页 |
| ·故障模拟 | 第27-29页 |
| ·响应分析 | 第29-31页 |
| ·内建自测试 | 第31-32页 |
| ·基于 LFSR 的自测试技术 | 第32-37页 |
| ·LFSR 基本原理 | 第32-34页 |
| ·基于 LFSR 的测试生成 | 第34-36页 |
| ·基于 LFSR 的测试响应分析 | 第36-37页 |
| ·LFSR 重播种测试向量生成 | 第37-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第3章 TPAC 自测试技术 | 第39-44页 |
| ·CSTP 介绍 | 第39-40页 |
| ·TPAC 自测试方法原理 | 第40-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第4章 基于自反馈和 LFSR 的组合电路自测试方法 | 第44-52页 |
| ·TPAC 技术采用的硬件分析 | 第44-45页 |
| ·组合电路自测试 | 第45-47页 |
| ·MinTest 测试集及无关位 | 第47-49页 |
| ·MinTest 测试集 | 第47-48页 |
| ·无关位 | 第48-49页 |
| ·实验结果 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 第5章 基于自反馈和 LFSR 的时序电路自测试方法 | 第52-59页 |
| ·时序电路自测试 | 第52-56页 |
| ·实验结果 | 第56-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录 A 攻读硕士期间发表的论文和参加的项目 | 第67页 |