基于相容性分析的测试数据压缩方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-22页 |
| ·集成电路的发展 | 第14页 |
| ·集成电路测试 | 第14-19页 |
| ·测试的原理 | 第15页 |
| ·测试的分类 | 第15-17页 |
| ·测试面临的一些挑战 | 第17-19页 |
| ·国内外研究现状 | 第19-20页 |
| ·论文主要贡献和结构安排 | 第20-22页 |
| 第二章 测试数据压缩 | 第22-40页 |
| ·测试数据压缩的原理 | 第22页 |
| ·测试数据压缩的分类 | 第22-39页 |
| ·基于编码的方案 | 第23-32页 |
| ·基于线性解压的方案 | 第32-35页 |
| ·基于扫描的方案 | 第35-39页 |
| ·测试数据压缩算法的要求 | 第39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第三章 基于位跳变相容的多扫描链压缩方法 | 第40-51页 |
| ·相容性分析 | 第40-42页 |
| ·数据块相容 | 第40-41页 |
| ·相容性分析步骤 | 第41-42页 |
| ·方案设计 | 第42-46页 |
| ·本文思想 | 第42-43页 |
| ·参数分析 | 第43-44页 |
| ·算法描述 | 第44-45页 |
| ·编码实例 | 第45-46页 |
| ·解压结构与原理 | 第46-48页 |
| ·解压结构 | 第46-47页 |
| ·解压原理 | 第47-48页 |
| ·实验结果 | 第48-50页 |
| ·Nsc与压缩率的关系 | 第48页 |
| ·NB 与压缩率的关系 | 第48-49页 |
| ·NE 与压缩率的关系 | 第49页 |
| ·与传统编码方法比较 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 测试数据压缩中的抖动问题及处理 | 第51-62页 |
| ·相关知识 | 第51-53页 |
| ·全 0 块和全 1 块 | 第51-52页 |
| ·抖动现象 | 第52-53页 |
| ·方案设计 | 第53-57页 |
| ·本文思想 | 第53-54页 |
| ·算法描述 | 第54-55页 |
| ·替换算法的选择 | 第55-56页 |
| ·编码实例 | 第56-57页 |
| ·解压结构与原理 | 第57-59页 |
| ·解压结构 | 第57-58页 |
| ·解压原理 | 第58-59页 |
| ·实验结果 | 第59-61页 |
| ·数据块长度的选取 | 第59-60页 |
| ·参考数据块寄存器个数的选取 | 第60-61页 |
| ·与传统编码方法比较 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 总结与展望 | 第62-64页 |
| ·总结 | 第62页 |
| ·进一步工作 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 附录 | 第70-71页 |
