边界扫描测试技术的分析与研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题的背景 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-9页 |
| ·课题研究的任务 | 第9-10页 |
| ·课题研究的意义 | 第10页 |
| ·课题的内容及章节安排 | 第10-11页 |
| 第二章 系统的可测性设计 | 第11-15页 |
| ·可测性设计简述 | 第11-12页 |
| ·可测性设计的优点 | 第12-13页 |
| ·几种常见的可测性设计 | 第13-14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 第三章 边界扫描测试技术 | 第15-27页 |
| ·概述 | 第15-18页 |
| ·TAP控制器 | 第18-20页 |
| ·指令寄存器 | 第20-22页 |
| ·测试数据寄存器 | 第22-23页 |
| ·旁路寄存器 | 第23-24页 |
| ·边界扫描寄存器 | 第24-26页 |
| ·器件标志寄存器 | 第26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第四章 边界扫描测试的VERILOG描述 | 第27-37页 |
| ·边界扫描测试的Verilog描述 | 第27-32页 |
| ·Verilog模块的结构 | 第27-28页 |
| ·JTAG的Verilog模型 | 第28页 |
| ·部分系统功能实现说明 | 第28-30页 |
| ·模块调试接口及寄存器说明 | 第30-32页 |
| ·关键技术分析 | 第32-37页 |
| ·复位信号的产生 | 第32页 |
| ·TAP控制器状态机的实现 | 第32-33页 |
| ·指令寄存器 | 第33-34页 |
| ·TDO多路器输出 | 第34-35页 |
| ·边界扫描寄存器 | 第35-37页 |
| 第五章 边界扫描测试的优化生成算法 | 第37-63页 |
| ·边界扫描测试基本理论 | 第37-41页 |
| ·基本技术概念 | 第37-39页 |
| ·边界扫描板级测试过程的数学模型 | 第39-41页 |
| ·测试优化的两个重要指标 | 第41-48页 |
| ·测试优化问题概述 | 第42-43页 |
| ·故障诊断的紧凑性问题 | 第43-44页 |
| ·故障诊断的完备性问题 | 第44-47页 |
| ·测试向量集的构成策略 | 第47-48页 |
| ·抗误判优化算法 | 第48-52页 |
| ·现有算法性能分析 | 第48-49页 |
| ·抗误判定理 | 第49-50页 |
| ·抗误判算法的改进 | 第50-52页 |
| ·极小权值优化算法 | 第52-56页 |
| ·极小权值算法的主要思想 | 第52-53页 |
| ·极小权值算法性能分析 | 第53-54页 |
| ·极小值算法的改进 | 第54-55页 |
| ·改进前后算法的比较分析 | 第55-56页 |
| ·自适应完备诊断优化算法 | 第56-62页 |
| ·自适应完备诊断的主要思想 | 第56-57页 |
| ·现有自适应诊断算法的缺陷 | 第57-58页 |
| ·自适应诊断算法的优化 | 第58-61页 |
| ·改进后算法的性能分析 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·论文总结 | 第63页 |
| ·今后的工作展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
