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微电子学、集成电路（IC）
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测试和检验
SM8260 CPM功能验证研究
加载电路板故障检测与定位算法研究
边界扫描板级测试技术的研究及SOPC实现
模拟电子模件的测试系统开发
微全分析系统中的化学发光检测系统
纳沟道中扩散系数测量及流动特性研究
统一验证方法的实现
基于边界扫描的数字系统可测性设计研究
基于USB接口的边界扫描控制器研制
电路板在线测试中应用边界扫描技术的探讨
基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法
微电子系统功耗估算与监测的仿真研究
功率器件热阻的测量分析
基于IIP模块的覆盖率驱动验证技术
基于OpenVera语言的SerDes验证环境实现
数字信号处理器IP核功能测试及故障测试数据压缩方法
MLCNANDFlash的测试Pattern的设计和分析
半导体芯片的静电防护电路及其失效分析
80C51 IP软核测试与应用技术研究
基于RAS结构的SOC测试方法的应用研究
NoC测试端口选择方法与Dmesh结构研究
基于多特征序列编码的SoC测试数据压缩方法研究
基于分块编码的SoC测试数据压缩方法研究
基于相容数据压缩的LFSR重新播种方法研究
基于响应相容及组频率编码的测试数据压缩研究
部分向量切分的LFSR重新播种测试方法
基于折半划分和分组共享的SoC测试压缩方法
基于RAS结构的测试方法研究
部分实现时序电路的等价性验证
IC晶片的AOI技术研究及应用
功率裸芯片的测试与老化筛选技术
基于汇编语言的控制流错误检测算法研究
基于JTAG标准的SoC调试研究与实现
通信芯片验证方法的研究
测试数据编码压缩技术的研究
基于SoC的测试数据压缩技术研究
基于VMM的验证平台的研究与实现
混合电路仿真中的元件建模与故障建模技术研究
电子功能模件边界扫描测试技术研究
数字IC自动测试设备关键技术研究
基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究
基于测试源划分的系统芯片测试数据压缩方法研究
面向数字系统的确定性自测试与延迟故障测试
基于两级扫描结构路径延迟故障的低功耗测试
VLSI扫描测试中的低功耗测试方法研究
等价性检验中的逻辑调试技术研究
VLSI高层测试生成方法的研究
基于扩展相容性扫描树的低测试响应数据量方法研究
基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法研究
一种由被测电路自己施加测试矢量的BIST方法研究
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