功耗限制下RTL数据通路低费用测试方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| ·研究背景和意义 | 第12-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·本文的主要工作和组织结构 | 第16-18页 |
| 第2章 集成电路测试技术简介 | 第18-36页 |
| ·故障及故障检测 | 第18-20页 |
| ·固定故障模型 | 第18-19页 |
| ·晶体管级故障 | 第19-20页 |
| ·故障模拟 | 第20-24页 |
| ·串行故障模拟 | 第21-22页 |
| ·并行故障模拟 | 第22页 |
| ·演绎故障模拟 | 第22-23页 |
| ·RTL 故障仿真 | 第23-24页 |
| ·测试生成方法 | 第24-29页 |
| ·组合 ATPG 算法基本步骤 | 第24-26页 |
| ·D 算法 | 第26-27页 |
| ·PODEN 算法 | 第27页 |
| ·FAN 算法 | 第27-28页 |
| ·RTL 测试产生 | 第28-29页 |
| ·可测试性设计 | 第29-33页 |
| ·全扫描测试设计 | 第29-30页 |
| ·高层扫描概念 | 第30-33页 |
| ·内建自测试 | 第33-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第3章 基于线性移位测试产生方法 | 第36-45页 |
| ·引言 | 第36-37页 |
| ·高层 DFT 设计 | 第37-38页 |
| ·对特定结构加法器测试产生 | 第38-40页 |
| ·加法器测试向量产生原理 | 第38-39页 |
| ·RTL 电路上加法器移位扫描测试实现 | 第39-40页 |
| ·对特定结构减法器测试产生 | 第40-41页 |
| ·对特定结构乘法器测试产生 | 第41-44页 |
| ·面向全加器或半加器等效故障测试产生 | 第42页 |
| ·面向全加器测试向量集测试产生 | 第42-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第4章 测试综合和功耗限制下的调度算法 | 第45-52页 |
| ·引言 | 第45页 |
| ·预备知识 | 第45-47页 |
| ·移位测试 | 第45页 |
| ·控制路径 | 第45-46页 |
| ·Thru 功能定义 | 第46页 |
| ·系统资源图 | 第46-47页 |
| ·测试综合与调度算法概述 | 第47-49页 |
| ·实验结果与分析 | 第49-51页 |
| ·实验结果 | 第49-51页 |
| ·实验分析 | 第51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第60页 |
| 攻读硕士期间完成的学术论文 | 第60页 |
