| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| ·集成电路的发展简介 | 第13-15页 |
| ·老化问题的研究价值 | 第15页 |
| ·国外研究现状 | 第15-16页 |
| ·国内研究现状 | 第16-17页 |
| ·课题来源 | 第17页 |
| ·创新点及结构安排 | 第17-19页 |
| 第二章 电路故障的基本知识 | 第19-31页 |
| ·老化效应及其检测、预测原理 | 第19-24页 |
| ·NBTI 效应 | 第19-21页 |
| ·电路老化检测基本原理 | 第21-22页 |
| ·电路老化预测基本原理 | 第22-24页 |
| ·软错误基本知识 | 第24-25页 |
| ·软错误的概念 | 第24-25页 |
| ·软错误防护技术 | 第25页 |
| ·EDA 仿真工具 | 第25-31页 |
| ·Hspice 模拟器简介 | 第25-29页 |
| ·DC 综合工具简介 | 第29-31页 |
| 第三章 增强型扫描结构 ESFF-SEAD | 第31-40页 |
| ·增强扫描测试 | 第31-32页 |
| ·ESFF-SEAD 结构 | 第32-35页 |
| ·实验结果 | 第35-37页 |
| ·Hspice 功能仿真 | 第35-36页 |
| ·面积开销分析 | 第36-37页 |
| ·老化纠错机制研究 | 第37-39页 |
| ·基于重配置时序拆借触发器的纠错机制 | 第37页 |
| ·信号可选择纠错机制 SSCM | 第37-39页 |
| ·结论 | 第39-40页 |
| 第四章 一种低开销信号违规检测结构 LSVD | 第40-53页 |
| ·老化失效预测的研究价值 | 第40-41页 |
| ·ARSC(Aging Resistant Stability Checker)老化预测策略 | 第41-44页 |
| ·LSVD(Low-Cost Signal Violation Detector)预测结构 | 第44-49页 |
| ·故障信号模型 | 第45页 |
| ·将目标故障映射为故障信号模型 | 第45-46页 |
| ·时序约束 | 第46-47页 |
| ·LSVD 结构的晶体管级实现 | 第47-49页 |
| ·实验结果 | 第49-52页 |
| ·故障检测能力分析 | 第49-50页 |
| ·面积开销分析 | 第50-51页 |
| ·功耗开销分析 | 第51-52页 |
| ·结论 | 第52-53页 |
| 第五章 总结与展望 | 第53-55页 |
| ·全文总结 | 第53-54页 |
| ·进一步工作 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 附录 | 第59-60页 |