基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| ·SoC 测试概述 | 第12-14页 |
| ·SoC 测试研究意义 | 第14-15页 |
| ·SoC 测试研究现状 | 第15-18页 |
| ·编码压缩方法 | 第16-17页 |
| ·内建自测试方法 | 第17-18页 |
| ·论文研究重点及结构安排 | 第18-19页 |
| 第二章 SoC 测试方法介绍 | 第19-28页 |
| ·SoC 测试基础 | 第20-25页 |
| ·测试源和测试宿 | 第20-22页 |
| ·测试访问机制 | 第22-24页 |
| ·测试外壳 | 第24-25页 |
| ·SoC 测试技术 | 第25-28页 |
| ·数字逻辑芯核测试 | 第25-26页 |
| ·处理器芯核测试 | 第26页 |
| ·存储器芯核测试 | 第26-27页 |
| ·模拟/混合电路芯核测试 | 第27-28页 |
| 第三章 内建自测试(BIST)方法 | 第28-38页 |
| ·BIST 方法概述 | 第28-29页 |
| ·LFSR 结构及其原理 | 第29-32页 |
| ·LFSR 重播种及其改进方法 | 第32-38页 |
| ·多多项式LFSRs 重播种 | 第32-34页 |
| ·变长种子LFSRs 重播种 | 第34-35页 |
| ·部分动态LFSR 重播种 | 第35-36页 |
| ·部分向量奇偶切分LFSR 重播种 | 第36-38页 |
| 第四章 等确定位切分LFSR 重播种 | 第38-47页 |
| ·等确定位切分的实现策略 | 第38-41页 |
| ·原实现策略 | 第39-40页 |
| ·改进的实现策略 | 第40-41页 |
| ·马尔可夫链理论模型 | 第41-45页 |
| ·帕累托最优的基准值S | 第45-47页 |
| 第五章 综合过程与实验结果 | 第47-52页 |
| ·综合过程及硬件结构 | 第47-48页 |
| ·完整综合过程 | 第47页 |
| ·硬件结构设计 | 第47-48页 |
| ·实验结果 | 第48-50页 |
| ·原实现策略的实验结果 | 第48-49页 |
| ·改进实现策略的实验结果 | 第49-50页 |
| ·硬件开销估算 | 第50-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 第六章 结束语 | 第52-54页 |
| ·总结 | 第52页 |
| ·展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 附录 | 第58-59页 |
