| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 系统级芯片测试概述 | 第8-13页 |
| ·问题的提出 | 第8-10页 |
| ·混合信号系统故障诊断的现状 | 第10-11页 |
| ·本文主要内容 | 第11-13页 |
| 第2章 系统级芯片的可测性分析及其系统建模 | 第13-28页 |
| ·测试点的优选和诊断策略 | 第13-16页 |
| ·测试算法和可测性 | 第16-22页 |
| ·PODEM算法与SCOAP测度 | 第16-18页 |
| ·可测性提高的实例分析 | 第18-22页 |
| ·混合信号系统建模与故障仿真 | 第22-27页 |
| ·故障模型及其仿真类型 | 第22-23页 |
| ·混合信号高层次建模与可测试性综合 | 第23-27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 第3章 可测性设计方法 | 第28-47页 |
| ·可测性设计(DFT) | 第28-29页 |
| ·扫描方法 | 第29-32页 |
| ·边界扫描测试总线标准 | 第29-30页 |
| ·混合信号边界扫描测试的实现 | 第30-32页 |
| ·内置自测试方法(BIST) | 第32-40页 |
| ·BIST的测试原理 | 第32-33页 |
| ·BIST的集成以及和BSCAN连接 | 第33-34页 |
| ·BIST的FPGA实现的软硬件设计 | 第34-40页 |
| ·I_(DDQ)测试 | 第40-46页 |
| ·I_(DDQ)测试的原理与方法 | 第40-44页 |
| ·I_(DDQ)测试的有效性及其改善 | 第44-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第4章 神经网络与广义互测试方法研究 | 第47-56页 |
| ·人工神经网络概述 | 第47-48页 |
| ·反向传播网络(Back-Propagation Network，BP网络) | 第48-51页 |
| ·BP网络的结构和模型算法 | 第48-50页 |
| ·BP网络在故障检测中的应用 | 第50-51页 |
| ·广义互测试方法(GMTC) | 第51-52页 |
| ·神经网络方法和广义互测试方法的结合 | 第52-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第5章 SoC测试标准及集成电路测试仪的研制 | 第56-62页 |
| ·SoC测试策略与工业标准 | 第56-58页 |
| ·SoC测试策略 | 第56-57页 |
| ·SoC测试的工业标准 | 第57-58页 |
| ·集成电路测试仪的软硬件设计 | 第58-60页 |
| ·小结 | 第60-62页 |
| 结论 | 第62-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 附录A(攻读学位期间所发表的学术论文目录) | 第70-71页 |
| 附录B(硕士研究生期间所参加的科研项目) | 第71-72页 |
| 附录C(BIST的FPGA实现源代码和测试程序) | 第72-75页 |