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数字集成电路电流测试技术研究

摘要第1-9页
ABSTRACT第9-11页
第1章 集成电路设计与测试第11-20页
   ·集成电路的发展第11-12页
   ·集成电路的分类与制造工艺第12-13页
   ·集成电路设计第13-16页
     ·电子设计自动化技术第13-14页
     ·现代集成电路设计方法第14-15页
     ·硬件描述语言第15-16页
   ·集成电路测试第16-19页
     ·测试的作用第16-17页
     ·测试分类第17-18页
     ·测试方法第18-19页
   ·本文章节安排第19-20页
第2章 数字集成电路测试技术概述第20-29页
   ·测试仪第20-21页
   ·测试生成第21-23页
   ·故障模拟第23-24页
   ·响应分析第24-25页
   ·可测试性设计第25-27页
   ·测试面临的挑战第27-29页
第3章 数字集成电路电压测试与电流测试方法第29-47页
   ·电压测试第29-35页
     ·故障模型第30-31页
     ·逻辑测试第31-33页
     ·时延测试第33-35页
   ·稳态电流(I_(DDQ))测试第35-40页
     ·I_(DDQ)测试的作用第36-37页
     ·I_(DDQ)测试的有效性第37-39页
     ·I_(DDQ)测试方法第39-40页
   ·瞬态电流(I_(DDT))测试第40-46页
     ·I_(DDT)测试试验第40-41页
     ·传感器及检测电路第41-42页
     ·测试响应分析第42-44页
     ·测试生成第44-45页
     ·全速电流测试第45-46页
   ·本文所做工作第46-47页
第4章 瞬态电流测试可行性研究第47-61页
   ·平均瞬态电流的概念第47-51页
     ·逻辑门的瞬态电流第47-48页
     ·平均瞬态电流(I_(DDT))第48-49页
     ·I_(DDT)与信号陡度的关系第49-50页
     ·I_(DDT)与负载的关系第50-51页
   ·I_(DDT)的性质第51-54页
     ·逻辑跳变第51-52页
     ·I_(DDT)与上跳变第52-53页
     ·I_(DDT)与冒险第53-54页
   ·故障检测实验第54-56页
     ·可测试性测度第54页
     ·故障检测实验第54-56页
   ·基于BOA的I_(DDT)测试生成第56-57页
   ·实验结果第57-60页
   ·小结第60-61页
第5章 任意时延分配下的I_(DDT)自动测试生成第61-74页
   ·测试向量生成准则第61-64页
     ·时间延滞模型第61-64页
     ·测试生成准则第64页
   ·自动测试生成算法第64-68页
     ·激活故障第64-66页
     ·适应度函数第66-67页
     ·算法描述第67-68页
   ·算法初始化策略第68-70页
     ·逻辑门的概率向量第68-69页
     ·生成初始向量第69-70页
   ·实验结果第70-72页
   ·小结第72-74页
第6章 I_(DDT)自动测试生成算法研究第74-90页
   ·瞬态电流通路故障模型第74-76页
     ·瞬态电流通路第74-75页
     ·瞬态电流通路故障第75-76页
   ·D前沿的划分第76-78页
   ·组合可控制性第78-80页
   ·对FAN算法的改进第80-83页
     ·激活故障第80页
     ·电流差别最大化第80-81页
     ·减少旁路的影响第81-82页
     ·减少冒险的影响第82页
     ·改进的算法结构第82-83页
   ·实验结果第83-87页
   ·小结第87-90页
第7章 CMOS数字电路峰值功耗估计第90-96页
   ·引言第90-91页
   ·计算原理第91-92页
   ·估计方法第92-93页
   ·实验结果与分析第93-95页
     ·实验结果第93-94页
     ·实验分析第94-95页
   ·小结第95-96页
结论第96-98页
参考文献第98-108页
致谢第108-109页
附录A 攻读学位期间发表的主要论文和参加的主要工作第109-110页

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