摘要 | 第1-9页 |
ABSTRACT | 第9-11页 |
第1章 集成电路设计与测试 | 第11-20页 |
·集成电路的发展 | 第11-12页 |
·集成电路的分类与制造工艺 | 第12-13页 |
·集成电路设计 | 第13-16页 |
·电子设计自动化技术 | 第13-14页 |
·现代集成电路设计方法 | 第14-15页 |
·硬件描述语言 | 第15-16页 |
·集成电路测试 | 第16-19页 |
·测试的作用 | 第16-17页 |
·测试分类 | 第17-18页 |
·测试方法 | 第18-19页 |
·本文章节安排 | 第19-20页 |
第2章 数字集成电路测试技术概述 | 第20-29页 |
·测试仪 | 第20-21页 |
·测试生成 | 第21-23页 |
·故障模拟 | 第23-24页 |
·响应分析 | 第24-25页 |
·可测试性设计 | 第25-27页 |
·测试面临的挑战 | 第27-29页 |
第3章 数字集成电路电压测试与电流测试方法 | 第29-47页 |
·电压测试 | 第29-35页 |
·故障模型 | 第30-31页 |
·逻辑测试 | 第31-33页 |
·时延测试 | 第33-35页 |
·稳态电流(I_(DDQ))测试 | 第35-40页 |
·I_(DDQ)测试的作用 | 第36-37页 |
·I_(DDQ)测试的有效性 | 第37-39页 |
·I_(DDQ)测试方法 | 第39-40页 |
·瞬态电流(I_(DDT))测试 | 第40-46页 |
·I_(DDT)测试试验 | 第40-41页 |
·传感器及检测电路 | 第41-42页 |
·测试响应分析 | 第42-44页 |
·测试生成 | 第44-45页 |
·全速电流测试 | 第45-46页 |
·本文所做工作 | 第46-47页 |
第4章 瞬态电流测试可行性研究 | 第47-61页 |
·平均瞬态电流的概念 | 第47-51页 |
·逻辑门的瞬态电流 | 第47-48页 |
·平均瞬态电流(I_(DDT)) | 第48-49页 |
·I_(DDT)与信号陡度的关系 | 第49-50页 |
·I_(DDT)与负载的关系 | 第50-51页 |
·I_(DDT)的性质 | 第51-54页 |
·逻辑跳变 | 第51-52页 |
·I_(DDT)与上跳变 | 第52-53页 |
·I_(DDT)与冒险 | 第53-54页 |
·故障检测实验 | 第54-56页 |
·可测试性测度 | 第54页 |
·故障检测实验 | 第54-56页 |
·基于BOA的I_(DDT)测试生成 | 第56-57页 |
·实验结果 | 第57-60页 |
·小结 | 第60-61页 |
第5章 任意时延分配下的I_(DDT)自动测试生成 | 第61-74页 |
·测试向量生成准则 | 第61-64页 |
·时间延滞模型 | 第61-64页 |
·测试生成准则 | 第64页 |
·自动测试生成算法 | 第64-68页 |
·激活故障 | 第64-66页 |
·适应度函数 | 第66-67页 |
·算法描述 | 第67-68页 |
·算法初始化策略 | 第68-70页 |
·逻辑门的概率向量 | 第68-69页 |
·生成初始向量 | 第69-70页 |
·实验结果 | 第70-72页 |
·小结 | 第72-74页 |
第6章 I_(DDT)自动测试生成算法研究 | 第74-90页 |
·瞬态电流通路故障模型 | 第74-76页 |
·瞬态电流通路 | 第74-75页 |
·瞬态电流通路故障 | 第75-76页 |
·D前沿的划分 | 第76-78页 |
·组合可控制性 | 第78-80页 |
·对FAN算法的改进 | 第80-83页 |
·激活故障 | 第80页 |
·电流差别最大化 | 第80-81页 |
·减少旁路的影响 | 第81-82页 |
·减少冒险的影响 | 第82页 |
·改进的算法结构 | 第82-83页 |
·实验结果 | 第83-87页 |
·小结 | 第87-90页 |
第7章 CMOS数字电路峰值功耗估计 | 第90-96页 |
·引言 | 第90-91页 |
·计算原理 | 第91-92页 |
·估计方法 | 第92-93页 |
·实验结果与分析 | 第93-95页 |
·实验结果 | 第93-94页 |
·实验分析 | 第94-95页 |
·小结 | 第95-96页 |
结论 | 第96-98页 |
参考文献 | 第98-108页 |
致谢 | 第108-109页 |
附录A 攻读学位期间发表的主要论文和参加的主要工作 | 第109-110页 |