功能验证和MCU软核测试技术的研究
| 第一章 前言 | 第1-23页 |
| ·集成电路技术的发展 | 第14-15页 |
| ·集成电路设计方法及其工具的变革 | 第15-17页 |
| ·集成电路设计方法 | 第15-16页 |
| ·现代EDA工具的发展 | 第16-17页 |
| ·集成电路产业的发展现状 | 第17-20页 |
| ·国际集成电路产业的发展现状 | 第17-18页 |
| ·设计业 | 第17-18页 |
| ·制造业 | 第18页 |
| ·我国集成电路产业所面临的挑战 | 第18-19页 |
| ·集成电路产业的走向 | 第19-20页 |
| ·课题工作内容和论文意义 | 第20-23页 |
| ·课题工作内容 | 第20-21页 |
| ·论文意义 | 第21-22页 |
| ·论文结构 | 第22-23页 |
| 第二章 验证理论概述 | 第23-35页 |
| ·SOC概述 | 第23-25页 |
| ·验证概述 | 第25-26页 |
| ·验证与测试 | 第26-27页 |
| ·验证的重要性 | 第27-29页 |
| ·从设计生产角度考虑 | 第27-28页 |
| ·从重用方法学来考虑 | 第28页 |
| ·从摩尔定律来考虑 | 第28-29页 |
| ·设计流程中的验证(验证层次) | 第29-35页 |
| ·系统级设计，行为级仿真 | 第32页 |
| ·RTL级设计，RTL级仿真 | 第32-33页 |
| ·逻辑综合与门级仿真 | 第33-34页 |
| ·后仿真 | 第34-35页 |
| 第三章 功能验证标准 | 第35-51页 |
| ·VSI Alliance简介 | 第35-36页 |
| ·功能验证概述 | 第36-37页 |
| ·目的验证 | 第37-44页 |
| ·动态验证 | 第37-39页 |
| ·确定性仿真 | 第37页 |
| ·随机模式仿真(直接或间接模式) | 第37-38页 |
| ·硬件加速 | 第38页 |
| ·硬件模型设计 | 第38页 |
| ·协议检验 | 第38页 |
| ·预期结果检验 | 第38-39页 |
| ·静态功能验证 | 第39页 |
| ·形式验证 | 第39-40页 |
| ·性能／模型验证 | 第39页 |
| ·理论证明 | 第39-40页 |
| ·动态-形式化混合验证 | 第40-41页 |
| ·符号仿真 | 第40页 |
| ·半形式化仿真 | 第40-41页 |
| ·软硬协同验证 | 第41页 |
| ·硬件仿真 | 第41-42页 |
| ·物理样机 | 第42-43页 |
| ·硬件仿真系统 | 第42页 |
| ·可重构样机系统 | 第42页 |
| ·专用样机系统 | 第42-43页 |
| ·虚拟样机 | 第43页 |
| ·验证标准 | 第43-44页 |
| ·硬件代码覆盖率 | 第43-44页 |
| ·功能覆盖率 | 第44页 |
| ·等价性验证 | 第44-51页 |
| ·动态验证 | 第44-46页 |
| ·确定性仿真 | 第45页 |
| ·预期结果检查 | 第45页 |
| ·标准模型检查 | 第45页 |
| ·回归测试 | 第45页 |
| ·验证测试序列的迁移 | 第45-46页 |
| ·形式化等价性检验 | 第46-47页 |
| ·布尔等价性检验 | 第47页 |
| ·时序等价性检验 | 第47页 |
| ·物理验证 | 第47-51页 |
| 第四章 平台验证 | 第51-66页 |
| ·测试平台 | 第51页 |
| ·测试系统化的概念 | 第51-55页 |
| ·测试的准备工作 | 第51-52页 |
| ·测试的流程 | 第52-55页 |
| ·测试平台的搭建 | 第55-60页 |
| ·工具目录 | 第57页 |
| ·数据目录 | 第57-58页 |
| ·模块目录 | 第58页 |
| ·工作目录 | 第58-59页 |
| ·工作目录的配置 | 第59-60页 |
| ·测试自动化 | 第60-64页 |
| ·自动验证系统的理论基础 | 第60-61页 |
| ·自动验证系统的优点 | 第61页 |
| ·自动验证系统的行为描述 | 第61-62页 |
| ·自动比较程序的设计 | 第62-64页 |
| ·关于自动验证系统的几个问题 | 第64页 |
| ·不同阶段测试平台的配置 | 第64-65页 |
| ·测试人员的工作重点 | 第65-66页 |
| 第五章 HGD08R01的验证 | 第66-83页 |
| ·HGD08R01简介 | 第66-70页 |
| ·验证方案的设计 | 第70-73页 |
| ·针对不同指令进行的测试 | 第70-72页 |
| ·针对不同操作数进行的测试 | 第72页 |
| ·针对不同功能块的测试 | 第72-73页 |
| ·针对异常情况的测试 | 第73页 |
| ·测试结果的分析 | 第73-83页 |
| ·程序运行的起始阶段(复位) | 第75页 |
| ·寄存器的测试 | 第75-78页 |
| ·ALU运行操作的测试 | 第78-79页 |
| ·间接寻址测试 | 第79页 |
| ·两级堆栈的测试 | 第79-80页 |
| ·SLEEP及其WDT的测试 | 第80-81页 |
| ·异常情况的测试 | 第81-83页 |
| 第六章 总结与展望 | 第83-85页 |
| ·总结 | 第83页 |
| ·展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-88页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第88页 |
