| 湖南大学学位论文原创性声明 | 第1页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 插图索引 | 第9-10页 |
| 附表索引 | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-23页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·集成电路测试的基本概念 | 第12-16页 |
| ·测试 | 第12-13页 |
| ·故障模型 | 第13-16页 |
| ·集成电路常用测试方法概述 | 第16-21页 |
| ·电压测试方法 | 第16-17页 |
| ·电流测试方法 | 第17-21页 |
| ·本文的研究内容 | 第21-23页 |
| 第2章 可测性设计概述 | 第23-31页 |
| ·扫描设计 | 第23-25页 |
| ·全扫描可测性设计 | 第25页 |
| ·部分扫描可测性设计 | 第25页 |
| ·边界扫描设计 | 第25-26页 |
| ·内建自测试 | 第26-30页 |
| ·BIST的结构 | 第27页 |
| ·测试向量生成器 | 第27-29页 |
| ·输出响应分析 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 用于I_(DDT)的BIST伪随机测试向量生成器 | 第31-37页 |
| ·LFSR简介 | 第31-32页 |
| ·用于I_(DDT)的BIST伪随机测试向量生成器 | 第32-35页 |
| ·实验结果 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 用于I_(DDT)的BIST伪确定性测试向量生成器 | 第37-50页 |
| ·重置种子 | 第37-39页 |
| ·重置种子的原理 | 第37-39页 |
| ·种子的求法 | 第39-40页 |
| ·单一多项式法 | 第39页 |
| ·多重反馈多项式法 | 第39-40页 |
| ·MISR方案 | 第40-42页 |
| ·MISR简介 | 第40-41页 |
| ·方案的实现 | 第41-42页 |
| ·用于I_(DDT)的伪确定性测试向量生成器 | 第42-49页 |
| ·多项BIST重置种子 | 第43-46页 |
| ·伪确定性测试向量生成器 | 第46-48页 |
| ·实验结果 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 结束语 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的论文 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
