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基于边界扫描测试技术的测试图形生成的研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-9页
第一章 绪论第9-14页
   ·研究背景第9-11页
   ·边界扫描测试系统在国内外发展情况第11-12页
     ·国外研究现状第11-12页
     ·国内研究现状第12页
   ·论文的研究内容及主要工作第12-13页
   ·论文结构概要第13-14页
第二章 边界扫描测试技术第14-25页
   ·边界扫描体系结构第14-15页
   ·测试存取端口(TAP)第15-16页
   ·TAP控制器(TAP Controller)第16-19页
   ·指令寄存器(Instruction Register IR)第19-20页
   ·数据寄存器(Test Data Register DR)第20-22页
     ·边界扫描寄存器(BSR)第20-21页
     ·用户设计数据寄存器(UDTR)第21-22页
     ·器件标识寄存器第22页
     ·旁路寄存器第22页
   ·指令(Instruction)第22-25页
第三章 板级互连测试的研究第25-36页
   ·板级互连测试的基本理论第25-28页
     ·板级边界扫描测试电路扩展第25-26页
     ·相关概念第26-28页
   ·测试算法第28-30页
   ·互连测试流程第30-36页
第四章 测试图形的自动生成设计第36-54页
   ·互连测试算法第36-37页
   ·网络表分析第37-40页
   ·BSDL文件分析第40-45页
   ·建立边界扫描链第45-46页
   ·串行向量格式 SVF(Serial Vector Format)第46-48页
   ·测试应用程序执行流程第48-53页
   ·测试结果验证第53-54页
第五章 总结与展望第54-55页
参考文献第55-57页
致谢第57-58页
攻读硕士学位期间发表的论文第58页

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