| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究背景 | 第9-11页 |
| ·边界扫描测试系统在国内外发展情况 | 第11-12页 |
| ·国外研究现状 | 第11-12页 |
| ·国内研究现状 | 第12页 |
| ·论文的研究内容及主要工作 | 第12-13页 |
| ·论文结构概要 | 第13-14页 |
| 第二章 边界扫描测试技术 | 第14-25页 |
| ·边界扫描体系结构 | 第14-15页 |
| ·测试存取端口(TAP) | 第15-16页 |
| ·TAP控制器(TAP Controller) | 第16-19页 |
| ·指令寄存器(Instruction Register IR) | 第19-20页 |
| ·数据寄存器(Test Data Register DR) | 第20-22页 |
| ·边界扫描寄存器(BSR) | 第20-21页 |
| ·用户设计数据寄存器(UDTR) | 第21-22页 |
| ·器件标识寄存器 | 第22页 |
| ·旁路寄存器 | 第22页 |
| ·指令(Instruction) | 第22-25页 |
| 第三章 板级互连测试的研究 | 第25-36页 |
| ·板级互连测试的基本理论 | 第25-28页 |
| ·板级边界扫描测试电路扩展 | 第25-26页 |
| ·相关概念 | 第26-28页 |
| ·测试算法 | 第28-30页 |
| ·互连测试流程 | 第30-36页 |
| 第四章 测试图形的自动生成设计 | 第36-54页 |
| ·互连测试算法 | 第36-37页 |
| ·网络表分析 | 第37-40页 |
| ·BSDL文件分析 | 第40-45页 |
| ·建立边界扫描链 | 第45-46页 |
| ·串行向量格式 SVF(Serial Vector Format) | 第46-48页 |
| ·测试应用程序执行流程 | 第48-53页 |
| ·测试结果验证 | 第53-54页 |
| 第五章 总结与展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第58页 |
