边界扫描测试系统设计与实现
| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第10-11页 |
| ·课题相关技术国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·边界扫描技术标准的发展历程 | 第11-13页 |
| ·边界扫描技术研究应用现状 | 第13页 |
| ·研究内容及论文安排 | 第13-16页 |
| ·论文研究内容及研究思路 | 第13-14页 |
| ·论文组织安排 | 第14-16页 |
| 第二章 边界扫描技术基础 | 第16-25页 |
| ·边界扫描技术的基本原理 | 第16页 |
| ·实现边界扫描机制的物理结构 | 第16-22页 |
| ·TAP测试存取端口 | 第16-17页 |
| ·寄存器 | 第17-20页 |
| ·TAP控制器 | 第20-22页 |
| ·边界扫描测试类型和测试方法 | 第22-23页 |
| ·边界扫描完整性测试 | 第22页 |
| ·器件间互连性测试 | 第22页 |
| ·器件和电路板静态功能测试 | 第22-23页 |
| ·器件自测试 | 第23页 |
| ·边界扫描描述语言 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 边界扫描测试生成算法研究 | 第25-40页 |
| ·边界扫描测试的基本理论和方法 | 第25-30页 |
| ·基本概念和定义 | 第25-26页 |
| ·故障模型 | 第26-27页 |
| ·边界扫描测试的基本定理 | 第27-29页 |
| ·边界扫描测试故障诊断准则 | 第29-30页 |
| ·常规边界扫描测试算法分析 | 第30-36页 |
| ·改良计数序列算法 | 第31-32页 |
| ·计数补偿算法 | 第32-34页 |
| ·移位“1”算法 | 第34页 |
| ·等权值抗误判算法 | 第34-36页 |
| ·边界扫描优化算法－等权值补偿算法 | 第36-39页 |
| ·算法的主要思想 | 第36-37页 |
| ·算法描述 | 第37-39页 |
| ·算法的故障检测能力分析 | 第39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 边界扫描测试系统方案设计 | 第40-45页 |
| ·边界扫描测试系统设计要求 | 第40-42页 |
| ·功能要求 | 第40-41页 |
| ·性能要求 | 第41-42页 |
| ·边界扫描测试系统的体系结构 | 第42-44页 |
| ·边界扫描控制器模块 | 第42-43页 |
| ·主控计算机模块 | 第43-44页 |
| ·边界扫描试验电路板 | 第44页 |
| ·本章小节 | 第44-45页 |
| 第五章 边界扫描测试系统软硬件设计与实现 | 第45-58页 |
| ·边界扫描测试系统下位机硬件设计 | 第45-48页 |
| ·边界扫描测试总线控制器 | 第45-47页 |
| ·可编程时钟模块 | 第47页 |
| ·边界扫描测试系统自检电路 | 第47-48页 |
| ·边界扫描测试系统上位机软件设计与实现 | 第48-57页 |
| ·文件分析模块 | 第49-50页 |
| ·测试算法生成 | 第50-51页 |
| ·测试数据生成 | 第51-53页 |
| ·上下位机通讯 | 第53-54页 |
| ·测试响应数据分析 | 第54-55页 |
| ·故障诊断模块 | 第55页 |
| ·辅助功能模块 | 第55-57页 |
| ·本章小节 | 第57-58页 |
| 第六章 边界扫描测试系统实验验证 | 第58-66页 |
| ·试验电路板结构 | 第58-59页 |
| ·试验结果分析 | 第59-62页 |
| ·边界扫描结构在测试中的特性 | 第59页 |
| ·完整性测试结果分析 | 第59-60页 |
| ·互连测试结果分析 | 第60-61页 |
| ·器件功能测试结果分析 | 第61-62页 |
| ·系统设计及调试过程中需要注意的几个问题 | 第62-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第七章 总结与展望 | 第66-68页 |
| ·全文总结 | 第66页 |
| ·研究展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第72页 |
