| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·集成电路测试的经典方法 | 第9-11页 |
| ·集成电路测试的新方法 | 第11-13页 |
| ·瞬态电流测试方法(I_(DDT))概述 | 第11-12页 |
| ·全速电流测试方法概述 | 第12-13页 |
| ·内建自测试(BIST)概述 | 第13页 |
| ·本文的工作 | 第13-14页 |
| ·基于非确定门延时的瞬态电流测试产生算法 | 第13-14页 |
| ·改进的FAN算法在瞬态电流测试中的应用 | 第14页 |
| ·基于瞬态电流测试的BIST测试向量生成器 | 第14页 |
| ·进一步的工作及展望 | 第14-15页 |
| 第2章 数字电路测试的基本理论和方法 | 第15-23页 |
| ·故障和故障类型 | 第15-18页 |
| ·开路故障模型 | 第16-18页 |
| ·延时模型 | 第18页 |
| ·自动测试生成(ATPG) | 第18-22页 |
| ·贝叶斯优化算法 | 第20-21页 |
| ·FAN算法 | 第21页 |
| ·BIST测试向量生成 | 第21-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 第3章 基于非确定门延时的I_(DDT)ATPG | 第23-36页 |
| ·基于固定门延时的瞬态电流测试产生算法 | 第23-24页 |
| ·基于非确定门延时的瞬态电流测试产生算法 | 第24-32页 |
| ·测试生成准则 | 第24页 |
| ·故障激活 | 第24-26页 |
| ·冒险对瞬态电流测试产生的影响 | 第26-28页 |
| ·适应度函数 | 第28-29页 |
| ·初始化策略 | 第29-32页 |
| ·算法描述 | 第32页 |
| ·实验结果 | 第32-35页 |
| ·结论 | 第35页 |
| ·小结和进一步的工作 | 第35-36页 |
| 第4章 改进的FAN算法在I_(DDT)测试中的应用 | 第36-51页 |
| ·D前沿的定义 | 第36-37页 |
| ·可控制性 | 第37-39页 |
| ·改进的瞬态电流测试生成算法 | 第39-43页 |
| ·减小冒险和门延时变化的影响 | 第39-40页 |
| ·改进的算法结构 | 第40-42页 |
| ·可测试性评价标准 | 第42-43页 |
| ·实验结果及分析 | 第43-49页 |
| ·小结 | 第49-51页 |
| 第5章 基于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器 | 第51-57页 |
| ·自动控制单元(Cellular automata) | 第51-52页 |
| ·自动控制单元的矩阵表示 | 第52页 |
| ·基于瞬态电流的测试向量生成器 | 第52-56页 |
| ·测试向量产生器的设计 | 第52-56页 |
| ·实验结果 | 第56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 附录A(攻读学位期间发表论文目录) | 第65页 |
