边界扫描技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-12页 |
| ·课题的背景 | 第8-9页 |
| ·国内外发展现状 | 第9-10页 |
| ·课题的任务和意义 | 第10-12页 |
| ·课题的任务 | 第10-11页 |
| ·课题的意义 | 第11-12页 |
| 第二章 BST 技术及应用 | 第12-36页 |
| ·BST 原理 | 第12-17页 |
| ·边界扫描测试的结构 | 第12-15页 |
| ·边界扫描工作方式 | 第15页 |
| ·外部测试原理 | 第15-16页 |
| ·互连测试工作模式 | 第16-17页 |
| ·故障及故障模型 | 第17-21页 |
| ·基本概念 | 第18-19页 |
| ·故障及模型 | 第19-21页 |
| ·边界扫描测试数学模型 | 第21-23页 |
| ·测试算法及故障诊断 | 第23-26页 |
| ·算法 | 第23-24页 |
| ·诊断 | 第24-26页 |
| ·测试链路完备性 | 第26-27页 |
| ·扫描测试分析 | 第27-35页 |
| ·链路完整性 | 第28-29页 |
| ·测试算法优化模型 | 第29-30页 |
| ·可测性设计及测试诊断流程 | 第30-31页 |
| ·BSDL 语言描述 | 第31-32页 |
| ·边界扫描技术应用 | 第32-35页 |
| ·扫描测试设计应用实例 | 第32-34页 |
| ·控制功能应用设计 | 第34-35页 |
| ·BST 技术的应用小结 | 第35-36页 |
| 第三章 基于 BST 的测试控制器设计 | 第36-58页 |
| ·工作原理 | 第36页 |
| ·系统方案 | 第36-39页 |
| ·Compact PCI 接口电路 | 第36-38页 |
| ·CompactPCI 简介 | 第37页 |
| ·总线控制器选择 | 第37-38页 |
| ·译码电路 | 第38页 |
| ·存储电路 | 第38-39页 |
| ·主控器 | 第39页 |
| ·主控器设计 | 第39-58页 |
| ·设计方法及设计描述 | 第40-41页 |
| ·主控器工作原理 | 第41-42页 |
| ·命令解释器 | 第42-45页 |
| ·解释命令定义 | 第42-44页 |
| ·解释器电路设计 | 第44-45页 |
| ·存储器接口电路设计 | 第45-49页 |
| ·JTAG 接口 | 第49-56页 |
| ·串行数据处理方案 | 第50-51页 |
| ·JTAG 接口电路设计 | 第51-56页 |
| ·其它部分 | 第56页 |
| ·系统时序仿真验证 | 第56-58页 |
| 第四章 结束语 | 第58-59页 |
| ·全文总结 | 第58页 |
| ·今后工作展望 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 个人简历 | 第62页 |
