| 中文摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-8页 |
| ·问题的提出 | 第6页 |
| ·本课题的任务与目标 | 第6-8页 |
| 第二章 半导体芯片的封装与测试 | 第8-12页 |
| ·芯片封装形式概述 | 第8-9页 |
| ·芯片测试综述 | 第9-12页 |
| 第三章 LTX77(TS80), LTX,FLEX 和A580 测试系统 | 第12-28页 |
| ·LTX77(TS80)系统概述 | 第12-14页 |
| ·LTX77的驱动与测量模块 | 第14-15页 |
| ·LTX 测试系统的硬件组成 | 第15-17页 |
| ·LTX 测试系统 | 第17-18页 |
| ·FLEX 测试系统 | 第18页 |
| ·FLEX 系统软件编辑平台IG-XL | 第18-20页 |
| ·A580 测试系统简介 | 第20-26页 |
| ·A580 测试程序结构 | 第26-28页 |
| 第四章 ADC 性能指标的分析及测试要求 | 第28-36页 |
| ·静态性能指标 | 第28-31页 |
| ·动态性能指标 | 第31-33页 |
| ·PCU03-ABS 对 ADC 测试的要求 | 第33-36页 |
| 第五章 LTX 到FLEX 的Pattern 转换的设计与实现 | 第36-43页 |
| ·Pattern 转换工具简介 | 第36-39页 |
| ·Pattern 转换设计与实现 | 第39-43页 |
| 第六章 PCU03ABS 芯片的ADC 测试程序设计与实现 | 第43-49页 |
| ·测试程序流程图 | 第43-45页 |
| ·测试程序的设计与实现 | 第45-48页 |
| ·测试结果 | 第48-49页 |
| 第七章 MC34118芯片结构与功能及其测试原理 | 第49-65页 |
| ·MC34118 芯片结构与功能描述 | 第49-51页 |
| ·测试原理与 A580 测试板的设计 | 第51-55页 |
| ·MC34118 芯片的测试测试程序的设计 | 第55-59页 |
| ·测试芯片加电时 VCC 管脚的输入电流的测试(PUIVCC) | 第55-56页 |
| ·测试芯片在不工作时 VCC 管脚的输入电流的测试(PUIVCC) | 第56-57页 |
| ·CD管脚输入电阻测试的实现 | 第57-58页 |
| ·测量当 Vcc 管脚加 5V 电压时的 Vb 端电压测试的实现 | 第58-59页 |
| ·MC34118 在 A580 平台的测试程序 | 第59-64页 |
| ·测试结果 | 第64-65页 |
| 第八章 结束语 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
