LC82380电路的测试技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题背景课题的来源、研究意义及研究的内容 | 第10-11页 |
| ·集成电路测试方法及发展趋势 | 第11-14页 |
| ·LC82380 测试技术分析 | 第14页 |
| ·测试系统简介 | 第14-16页 |
| 第2章 功能测试原理与方法 | 第16-31页 |
| ·LC82380 电路的简介 | 第16-20页 |
| ·DMA 控制器 | 第20-25页 |
| ·可编程中断控制器 | 第25-28页 |
| ·可编程间隔计时器 | 第28-29页 |
| ·等待状态产生器 | 第29-30页 |
| ·DRAM 刷新控制器 | 第30页 |
| ·系统重置电路 | 第30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 直流参数的测试原理与方法 | 第31-44页 |
| ·直流参数的测试原理 | 第31页 |
| ·输出高电平的测试原理(VOH) | 第31-37页 |
| ·直流参数的测试方法 | 第37-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 交流参数的测试原理与方法 | 第44-53页 |
| ·交流参数的测试原理 | 第44-47页 |
| ·交流参数的测试方法 | 第47-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 测试程序优化设计 | 第53-57页 |
| ·测试程序优化意义 | 第53页 |
| ·优化功能测试程序 | 第53-54页 |
| ·优化直流参数测试程序 | 第54-55页 |
| ·优化交流参数测试程序 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第6章 测试结果与分析 | 第57-61页 |
| ·测试数据 | 第57-58页 |
| ·测试程序分析 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 工程硕士研究生个人简历 | 第66页 |
