| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 插图索引 | 第10-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-21页 |
| ·研究背景 | 第12页 |
| ·集成电路常用测试方法概述 | 第12-19页 |
| ·电压测试方法 | 第13页 |
| ·电流测试方法 | 第13-19页 |
| ·研究目标 | 第19页 |
| ·本文的工作 | 第19-21页 |
| ·提高瞬态电流测试自动测试生成时间效率的方法 | 第19页 |
| ·基于不确定门延时的瞬态电流模拟 | 第19-20页 |
| ·全速电流测试的PSPICE模拟 | 第20-21页 |
| 第2章 数字电路测试的基本理论和方法 | 第21-29页 |
| ·故障模型 | 第21-25页 |
| ·固定故障模型 | 第21页 |
| ·开路故障模型 | 第21-24页 |
| ·延时模型 | 第24-25页 |
| ·自动测试生成 | 第25-28页 |
| ·贝叶斯优化算法 | 第27-28页 |
| ·FAN算法 | 第28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第3章 提高瞬态电流测试自动测试生成时间效率的方法 | 第29-43页 |
| ·测试生成标准 | 第29-30页 |
| ·故障激活 | 第30-32页 |
| ·D前沿的定义 | 第32-33页 |
| ·可控制性 | 第33-34页 |
| ·提高测试生成效率 | 第34-36页 |
| ·按顺序选择节点 | 第34-35页 |
| ·动态调整可控制性代价参数 | 第35-36页 |
| ·颠倒测试向量对的顺序 | 第36页 |
| ·改进的瞬态电流测试生成算法结构 | 第36-38页 |
| ·实验结果及分析 | 第38-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于不确定门延时的瞬态电流模拟 | 第43-52页 |
| ·冒险对瞬态电流测试产生的影响 | 第43-45页 |
| ·基于布尔过程的波形模拟器 | 第45-49页 |
| ·布尔过程论 | 第45-46页 |
| ·波形模拟器 | 第46-48页 |
| ·基于不确定门延时的波形模拟器 | 第48-49页 |
| ·向量的可靠性验证 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 第5章 全速电流测试的PSPICE模拟 | 第52-61页 |
| ·PSPICE介绍 | 第52-53页 |
| ·模型的建立 | 第53-55页 |
| ·组合电路的模拟 | 第55-58页 |
| ·全速电流测试方法 | 第58页 |
| ·PSPICE对故障的模拟 | 第58-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 结束语 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的论文和参加的项目 | 第67页 |