集成电路测试系统后逻辑支持电路改进与模拟延迟线性能分析

第一章 绪论	第1-18页
·引言	第8-9页
·选题背景	第9-17页
·本课题研究意义和主要内容	第17-18页
第二章 集成电路测试系统后逻辑支持电路改进方案	第18-32页
·引言	第18-19页
·改进前的后逻辑支持电路	第19-21页
·后逻辑支持电路改进方案	第21-26页
·采用延迟线分段补偿时差	第21-23页
·采用流水线技术进行失效处理	第23-26页
·改进方案的仿真实验	第26-31页
·小结	第31-32页
第三章 模拟延迟线性能分析	第32-45页
·Per pin定时电路结构	第32-34页
·延迟线结构与原理	第34-36页
·模拟延迟工作性能的分析	第36-43页
·定时分辨率分析	第37页
·定时精度分析	第37-42页
·工作性能实验	第42-43页
·小结	第43-45页
第四章 模拟延迟线性能仿真实验	第45-61页
·仿真环境	第45-46页
·延迟线延迟时间分析	第46-48页
·比较器的延迟时间	第48-54页
·比较器延迟的理论计算方法	第48-50页
·比较器延迟与电路电容的关系	第50-52页
·比较器的延迟与电流沉电流的关系	第52-54页
·对比较器电路进行改进	第54-59页
·差分输入比较器电路的缺点	第54-56页
·用萨之唐公式电压漂移原理对比较器进行改进	第56-58页
·用二极管电压漂移原理对比较器进行改进	第58-59页
·小结	第59-61页
第五章 结论及展望	第61-63页
参考文献	第63-66页
致谢	第66-67页
攻读学位期间发表的学术论文	第67页