SoC低成本测试技术与实现方法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-26页 |
| ·测试的概念和意义 | 第12-15页 |
| ·常用的测试方法与可测性技术 | 第15-23页 |
| ·故障模型 | 第15-17页 |
| ·自动测试向量生成(ATPG) | 第17-19页 |
| ·可测性设计技术概述 | 第19-23页 |
| ·本论文的研究目的和主要贡献 | 第23-26页 |
| 第二章 SOC系统芯片的测试与成本分析 | 第26-48页 |
| ·SoC的测试挑战 | 第26-38页 |
| ·基于IP核的SoC设计 | 第26-28页 |
| ·SoC的测试问题 | 第28-32页 |
| ·SoC系统级的可测性设计 | 第32-38页 |
| ·SoC测试成本分析 | 第38-43页 |
| ·测试的运行成本 | 第39-43页 |
| ·测试压缩技术 | 第43-47页 |
| ·测试激励压缩 | 第44-46页 |
| ·测试响应压缩 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第三章 Z轴方向测试数据的精简压缩 | 第48-73页 |
| ·测试数据精简压缩技术的研究现状 | 第48-49页 |
| ·传统的测试向量产生(ATPG)流程 | 第49-52页 |
| ·测试向量精简压缩技术 | 第52-64页 |
| ·RVE算法 | 第54-56页 |
| ·EFR算法 | 第56-59页 |
| ·删除 | 第59-61页 |
| ·双向重叠插入法 | 第61-63页 |
| ·单向重叠插入法 | 第63-64页 |
| ·含有精简压缩技术的测试向量产生流程 | 第64-71页 |
| ·含有精简压缩技术的测试向量产生流程的实现 | 第66-69页 |
| ·实验结果和有效性分析 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 第四章 Y轴方向测试数据压缩方法 | 第73-90页 |
| ·广播式压缩方法 | 第73-77页 |
| ·逻辑变换压缩方法 | 第77-78页 |
| ·组合逻辑变换压缩方法 | 第78-88页 |
| ·组合逻辑变换压缩的思想 | 第78-80页 |
| ·压缩电路性能的理论分析 | 第80-83页 |
| ·解压缩电路设计实现 | 第83-85页 |
| ·实验结果分析 | 第85-88页 |
| ·本章小结 | 第88-90页 |
| 第五章 X轴方向测试数据压缩方法 | 第90-110页 |
| ·数据编码压缩的概述 | 第91-92页 |
| ·现有的测试数据的编码压缩算法 | 第92-96页 |
| ·测试数据压缩方法分类 | 第93页 |
| ·测试数据压缩方法的特征要求 | 第93-94页 |
| ·现有的编码压缩算法 | 第94-96页 |
| ·基于混合游程的编码算法 | 第96-109页 |
| ·测试向量特征分析 | 第96页 |
| ·混合游程的编码算法 | 第96-98页 |
| ·编码算法的理论分析 | 第98-102页 |
| ·测试数据的优化 | 第102-104页 |
| ·硬件解码单元实现 | 第104-106页 |
| ·实验结果分析 | 第106-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 第六章 测试响应数据压缩算法和实现 | 第110-129页 |
| ·测试响应的概述 | 第110-112页 |
| ·测试响应压缩分类 | 第110-111页 |
| ·测试响应压缩的混淆 | 第111-112页 |
| ·测试响应的时间和空间压缩技术 | 第112-116页 |
| ·零混淆的测试响应压缩技术 | 第114-116页 |
| ·基于循环码的无混淆压缩技术 | 第116-128页 |
| ·应用于响应压缩的循环码设计规则 | 第116-117页 |
| ·循环码分析 | 第117-120页 |
| ·循环码的生成多项式和生成矩阵 | 第120-121页 |
| ·循环码的监督矩阵和伴随式 | 第121-122页 |
| ·测试响应压缩电路的实现 | 第122-127页 |
| ·实验结果 | 第127-128页 |
| ·本章总结 | 第128-129页 |
| 第七章 压缩算法的FPGA实现与实际应用 | 第129-139页 |
| ·压缩网络的结构设计 | 第129-132页 |
| ·压缩电路的FPGA实现 | 第132-133页 |
| ·压缩电路的实际测试应用 | 第133-138页 |
| ·本章小节 | 第138-139页 |
| 第八章 结束语 | 第139-142页 |
| ·本文的主要贡献 | 第139-141页 |
| ·后续工作展望 | 第141-142页 |
| 致谢 | 第142-143页 |
| 参考文献 | 第143-155页 |
| 研究成果 | 第155-157页 |
