低功耗内建自测试设计方法研究
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-23页 |
| ·本课题研究背景 | 第10-15页 |
| ·测试面临的挑战 | 第10-13页 |
| ·SoC芯片测试举例 | 第13-15页 |
| ·BIST概述 | 第15-21页 |
| ·测试激励产生 | 第15-17页 |
| ·测试响应压缩 | 第17-18页 |
| ·BIST测试结构 | 第18-20页 |
| ·小结 | 第20-21页 |
| ·论文的主要工作和创新点 | 第21-23页 |
| ·论文的主要工作 | 第21-22页 |
| ·本文的创新点 | 第22页 |
| ·论文结构 | 第22-23页 |
| 第二章 低功耗BIST设计概述 | 第23-47页 |
| ·测试过程中的功耗问题 | 第23-26页 |
| ·能耗和功耗估算模型 | 第23-24页 |
| ·测试功耗问题起因 | 第24-26页 |
| ·低功耗测试意义 | 第26页 |
| ·低功耗BIST研究概述 | 第26-32页 |
| ·低功耗测试激励产生 | 第27-29页 |
| ·低功耗测试结构 | 第29-31页 |
| ·RTL级低功耗设计 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32页 |
| ·高层测试综合 | 第32-45页 |
| ·高层综合 | 第32-38页 |
| ·测试综合 | 第38-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第三章 运算单元随机响应模型 | 第47-56页 |
| ·问题的提出 | 第47页 |
| ·可测性度量 | 第47-50页 |
| ·模块的随机响应模型 | 第50-54页 |
| ·可测性和故障覆盖率之间关系 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 功耗约束下的测试综合 | 第56-72页 |
| ·启发式寄存器分配算法 | 第56-62页 |
| ·PRPG和SA变量的选择 | 第56-57页 |
| ·模块测试路径的建立 | 第57-60页 |
| ·建立测试路径的启发规则 | 第60-61页 |
| ·实验结果 | 第61页 |
| ·小结 | 第61-62页 |
| ·基于ILP寄存器分配算法 | 第62-71页 |
| ·测试路径的建立 | 第63-66页 |
| ·测试时间建模 | 第66-67页 |
| ·测试功耗约束建模 | 第67-69页 |
| ·实验结果 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第五章 门级低功耗可测性设计 | 第72-92页 |
| ·基于部分扫描的低功耗内建自测试 | 第72-78页 |
| ·全扫描和部分扫描 | 第72-75页 |
| ·部分扫描算法 | 第75-77页 |
| ·实验结果 | 第77-78页 |
| ·基于模拟退火算法的测试矢量分组 | 第78-84页 |
| ·概述 | 第78页 |
| ·模拟退火算法 | 第78-79页 |
| ·分组测试矢量的算法模型 | 第79-80页 |
| ·“跳转”逻辑实现 | 第80-83页 |
| ·实验结果 | 第83-84页 |
| ·低功耗扫描测试 | 第84-91页 |
| ·概述 | 第84-85页 |
| ·捕获操作的划分 | 第85-87页 |
| ·扫描移位操作的划分 | 第87页 |
| ·实验结果 | 第87-88页 |
| ·故障覆盖率和测试功耗的折中 | 第88-89页 |
| ·实验结果 | 第89-91页 |
| ·本章小结 | 第91-92页 |
| 第六章 总结与展望 | 第92-94页 |
| 参考文献 | 第94-101页 |
| 致谢 | 第101-102页 |
| 附录A 行为级综合基准电路 | 第102-110页 |
| A.1 6阶FIR滤波器 | 第102-104页 |
| A.2 6-tap小波滤波器 | 第104-106页 |
| A.3 3阶IIR滤波器 | 第106-108页 |
| A.4 4点离散余弦变换 | 第108-110页 |
| 博士阶段获得的研究成果 | 第110-111页 |
