| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·集成电路测试的重要性及可测性设计 | 第7-8页 |
| ·内建自测试（BIST）及其他相关测试方法 | 第8-13页 |
| ·本文的主要工作及结构 | 第13-15页 |
| 第二章 嵌入式memory 内建自测试(MBIST) | 第15-26页 |
| ·内建自测试的概念及应用 | 第15-16页 |
| ·嵌入式memory 常用的故障模型 | 第16-17页 |
| ·嵌入式memory 常用的测试算法及有效性 | 第17-19页 |
| ·基本的内建自测试结构 | 第19-23页 |
| ·常用的嵌入式memory（RAM）内建自测试结构 | 第23-26页 |
| 第三章 MBIST MARCH TB+ 算法 | 第26-40页 |
| ·MBIST 测试算法 | 第26-32页 |
| ·MARCH C-算法 | 第28-29页 |
| ·MARCH TB 算法 | 第29-31页 |
| ·MARCH TB+算法 | 第31-32页 |
| ·MARCH TB+实现结构 | 第32-40页 |
| ·BIST 电路测试控制器 | 第34-37页 |
| ·BIST 电路地址向量发生器 | 第37-39页 |
| ·BIST 电路mux 多路选择器 | 第39-40页 |
| 第四章 MBIST MARCH TB+ 算法实验及结论 | 第40-44页 |
| ·算法实验 | 第40-42页 |
| ·测试接口激励信号 | 第40-41页 |
| ·测试波形 | 第41-42页 |
| ·实验结论 | 第42-44页 |
| 第五章 总结和展望 | 第44-45页 |
| ·本文工作总结 | 第44页 |
| ·展望 | 第44-45页 |
| 致谢 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
| 论文发表 | 第48页 |
