| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·测试生成算法概述 | 第12-15页 |
| ·测试生成算法的研究现状 | 第12-14页 |
| ·测试生成算法的发展趋势 | 第14-15页 |
| ·课题的背景及研究内容 | 第15-17页 |
| ·课题的背景 | 第15-16页 |
| ·课题的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 基于时滞故障的组合电路测试生成算法 | 第17-27页 |
| ·时滞故障测试的基本知识 | 第17-20页 |
| ·时滞故障模型 | 第17-18页 |
| ·时滞故障测试 | 第18-19页 |
| ·鲁棒性测试与非鲁棒性测试 | 第19-20页 |
| ·基于单固定型故障测试生成算法的时滞故障测试生成算法 | 第20-26页 |
| ·基本知识 | 第21-24页 |
| ·算法描述 | 第24-25页 |
| ·实验结果 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 基于状态控制的组合电路测试生成算法 | 第27-37页 |
| ·基于状态等价的组合电路测试生成算法（EST 算法） | 第27-31页 |
| ·利用搜索空间状态信息来提高测试矢量生成效率 | 第27-28页 |
| ·实例分析 | 第28-30页 |
| ·利用冗余故障来加速测试矢量生成 | 第30-31页 |
| ·基于状态控制的组合电路测试生成算法 | 第31-36页 |
| ·相关定理 | 第31-32页 |
| ·算法实现 | 第32-34页 |
| ·实例分析 | 第34-36页 |
| ·算法仿真 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 多固定型故障的测试生成算法 | 第37-44页 |
| ·多故障测试的基本知识 | 第37-41页 |
| ·故障压缩 | 第37-39页 |
| ·多故障的新模型 | 第39-41页 |
| ·多固定型故障的测试生成算法 | 第41-43页 |
| ·算法描述 | 第41-42页 |
| ·实例分析 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 结论 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49页 |