微控制器测试向量生成方法的研究和实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-19页 |
| ·集成电路的发展 | 第8-9页 |
| ·分类 | 第8-9页 |
| ·发展特点 | 第9页 |
| ·集成电路自动测试技术 | 第9-14页 |
| ·发展概述 | 第9-11页 |
| ·重要性 | 第11-13页 |
| ·测试的分类 | 第13-14页 |
| ·本论文的研究背景、目的和方向 | 第14-19页 |
| ·国内研究应用背景 | 第14-17页 |
| ·研究目的和方向 | 第17-19页 |
| 第2章 数字集成电路测试原理 | 第19-34页 |
| ·逻辑功能测试 | 第19-26页 |
| ·故障、故障模型和故障覆盖率 | 第19-20页 |
| ·测试周期 | 第20-21页 |
| ·测试向量和图形深度 | 第21页 |
| ·逻辑功能测试的实现过程和原理 | 第21-24页 |
| ·逻辑功能测试的硬件框图设计 | 第24-26页 |
| ·直流参数测试 | 第26-32页 |
| ·直流参数及测试原理介绍 | 第26-29页 |
| ·实现直流参数测试的硬件框图和原理 | 第29-32页 |
| ·交流参数测试 | 第32-34页 |
| 第3章 微控制器测试 | 第34-43页 |
| ·微控制器测试概况 | 第34-36页 |
| ·特点和原因 | 第34-35页 |
| ·微控制器的一般开发方法 | 第35-36页 |
| ·改进的微控制器测试程序开发方法 | 第36-43页 |
| ·程序开发流程 | 第36-37页 |
| ·建立功能故障模型 | 第37-38页 |
| ·汇编测试程序的编写 | 第38-43页 |
| 第4章 测试向量自动生成方法的实现 | 第43-66页 |
| ·实现原理和结构框图设计 | 第43-53页 |
| ·源测试向量的编写和装载 | 第44-45页 |
| ·定时电路设计 | 第45-48页 |
| ·驱动、比较电路设计 | 第48-50页 |
| ·图形文件反编译 | 第50-52页 |
| ·外围辅助电路设计 | 第52-53页 |
| ·N80C196KB学习法生成测试向量 | 第53-65页 |
| ·辅助电路框图和原理 | 第53-54页 |
| ·时钟信号设定 | 第54-55页 |
| ·测试向量的生成 | 第55-59页 |
| ·各个功能模块测试向量的生成 | 第59-61页 |
| ·定时器测试向量的生成 | 第61-63页 |
| ·A/D转换器测试向量的生成 | 第63-65页 |
| ·N80C196KB测试结果分析 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第72-73页 |
| 附录 1 | 第73-77页 |
| 附录 2 | 第77-78页 |
