基于散射光信号分形的亚微米及纳米颗粒测量技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·亚微米及纳米颗粒测量的意义 | 第9-10页 |
| ·亚微米及纳米颗粒测量的方法 | 第10-11页 |
| ·亚微米及纳米颗粒测量技术的发展 | 第11-13页 |
| ·基于散射光信号分形的亚微米及纳米颗粒测量 | 第13-14页 |
| ·本课题研究的主要内容 | 第14-15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 颗粒散射光波动特性研究 | 第16-28页 |
| ·颗粒测量的光散射理论 | 第16-20页 |
| ·颗粒的光散射 | 第16-17页 |
| ·Mie 散射理论 | 第17-19页 |
| ·Mie 散射理论的近似 | 第19-20页 |
| ·颗粒散射光的波动 | 第20-25页 |
| ·颗粒的布朗运动 | 第20-23页 |
| ·颗粒散射光强的涨落 | 第23-25页 |
| ·颗粒散射光信号的分形表征 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 颗粒散射光信号分形特征的提取 | 第28-34页 |
| ·分形 | 第28-29页 |
| ·分形维数 | 第29-31页 |
| ·颗粒散射光信号分形维数的计算 | 第31-33页 |
| ·盒维数法 | 第31-32页 |
| ·变换法 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 基于散射光信号分形的颗粒测量装置 | 第34-47页 |
| ·测量装置的构成 | 第34页 |
| ·光源 | 第34-35页 |
| ·入射光路 | 第35-36页 |
| ·散射光路 | 第36-37页 |
| ·光子计数 | 第37-41页 |
| ·光电探测器 | 第38-40页 |
| ·光子计数卡 | 第40-41页 |
| ·样品池温度的测量与控制 | 第41-46页 |
| ·键盘、显示电路 | 第42-43页 |
| ·温度测量电路 | 第43-44页 |
| ·温度控制电路 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 实验分析及对相关问题的讨论 | 第47-70页 |
| ·实验参数及步骤 | 第47-48页 |
| ·实验参数 | 第47页 |
| ·实验步骤 | 第47-48页 |
| ·恒温条件下颗粒散射光信号测量与分形维数计算 | 第48-50页 |
| ·温度影响实验 | 第50-52页 |
| ·颗粒散射光信号分形维的数值拟合 | 第52-54页 |
| ·信号采样点个数对测量结果的影响 | 第54-59页 |
| ·基于拟合结果的颗粒粒径测量 | 第59-63页 |
| ·与光子相关光谱颗粒测量方法的比较 | 第63-68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 第六章 结论与建议 | 第70-72页 |
| ·结论 | 第70-71页 |
| ·建议 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-77页 |
| 攻读硕士期间参加课题和发表论文 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 附录一：取不同采样点个数时颗粒的测量结果 | 第79-89页 |
| 附录二：不同温度下标准颗粒的测量结果 | 第89-107页 |
| 附录三：测量结果分析所用的计算公式 | 第107页 |
