| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-12页 |
| ·激光雕刻切割技术的发展背景及项目研究意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-11页 |
| ·论文的主要内容 | 第11-12页 |
| 第二章 激光切割雕刻机电路板测试接口 | 第12-24页 |
| ·激光切割雕刻机硬件电路板基于边界扫描测试的设计思想 | 第12-13页 |
| ·边界扫描器件的结构 | 第13-20页 |
| ·JTAG 内部结构 | 第13-15页 |
| ·JTAG 寄存器单元的机构 | 第15-16页 |
| ·TAP 控制器 | 第16-18页 |
| ·指令寄存器 | 第18-19页 |
| ·数据寄存器 | 第19-20页 |
| ·JTAG 指令 | 第20-23页 |
| ·JTAG 指令简介 | 第20页 |
| ·BYPASS | 第20-21页 |
| ·边界扫描寄存器指令概况 | 第21-23页 |
| ·BSDL 边界扫描描述语言 | 第23-24页 |
| ·BSDL 语言简介 | 第23页 |
| ·BSDL 文件 | 第23-24页 |
| 第三章 激光切割雕刻机硬件电路板的测试算法研究 | 第24-39页 |
| ·边界扫描测试对电路“互连网络”的分类 | 第25-26页 |
| ·互连测试和Cluster 测试 | 第26-28页 |
| ·互连测试 | 第26-28页 |
| ·Cluster 测试 | 第28页 |
| ·互连测试算法的研究 | 第28-35页 |
| ·可完全边界扫描电路的测试算法 | 第28-30页 |
| ·部分可测试电路的测试算法 | 第30-31页 |
| ·常用的边界扫描测试算法举例 | 第31-33页 |
| ·两种优化的互连测试算法 | 第33-35页 |
| ·基于优化算法的联机调试——DM642 和FPGA 高速印刷电路板 | 第35-39页 |
| ·基本测试流程 | 第35-36页 |
| ·联机调试 | 第36-39页 |
| 第四章 激光切割雕刻机硬件电路板的在线故障诊断测试系统研究 | 第39-65页 |
| ·测试系统硬件模块 | 第40-43页 |
| ·基于DM642 和FPGA 的高速印刷电路板的可测性设计 | 第40-42页 |
| ·测试系统硬件接口电路 | 第42-43页 |
| ·测试系统软件设计 | 第43-61页 |
| ·计算机主机软件设计 | 第43-46页 |
| ·TAP 控制类 | 第46-47页 |
| ·基本指令类 | 第47-48页 |
| ·边界扫描测试类 | 第48-59页 |
| ·文件库 | 第59-61页 |
| ·激光切割雕刻机硬件电路板在线联机调试 | 第61-65页 |
| ·联机测试平台 | 第61-62页 |
| ·测试过程及测试报告 | 第62-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研项目 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
