| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-18页 |
| ·集成电路(IC)测试的研究背景 | 第8-9页 |
| ·集成电路测试的种类 | 第8页 |
| ·集成电路测试系统的发展历程 | 第8-9页 |
| ·IC测试方法与仿真实现研究现状 | 第9-10页 |
| ·IC测试研究现状 | 第9-10页 |
| ·IC仿真测试研究现状 | 第10页 |
| ·IC测试仿真的研究意义 | 第10-11页 |
| ·仿真软件简介 | 第11-15页 |
| ·仿真软件EWB的特点 | 第11-13页 |
| ·EWB使用的元(器)件和虚拟仿真仪器介绍 | 第13-15页 |
| ·本文研究的主要内容及论文组织 | 第15-18页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第15-17页 |
| ·本论文的组织结构 | 第17-18页 |
| 2 IC测试的仿真实现和实际测试系统测试的对比 | 第18-23页 |
| ·IC测试基本原理 | 第18-20页 |
| ·IC仿真测试基本原理 | 第20页 |
| ·实际测试系统的基本构成 | 第20-22页 |
| ·仿真测试的基本构成和功能实现 | 第22页 |
| ·实际测试与仿真测试两种方法的对比 | 第22-23页 |
| 3 IC测试方法的分析及其仿真实现 | 第23-53页 |
| ·数字电路测试及仿真实现 | 第23-36页 |
| ·数字电路测试的原理 | 第23-24页 |
| ·数字电路测试的方法及分析 | 第24-26页 |
| ·数字电路测试的仿真实现 | 第26-36页 |
| ·仿真测试事例——预置异步计数器74160 | 第26-32页 |
| ·74160功能描述 | 第26-27页 |
| ·74160电路的特点 | 第27页 |
| ·74160封装、逻辑、时序说明 | 第27-29页 |
| ·74160实际测试的情况 | 第29-30页 |
| ·对电路74160进行仿真测试 | 第30-32页 |
| ·以数据选择器/多路复用器74151为例说明仿真测试 | 第32-36页 |
| ·74151封装、逻辑、功能说明 | 第32-34页 |
| ·74151仿真测试 | 第34-36页 |
| ·模拟电路测试及仿真实现 | 第36-47页 |
| ·稳压电路测试及仿真实现 | 第36-39页 |
| ·运算(电压)放大器电路测试及仿真实现 | 第39-44页 |
| ·输入失调电压V_(IO)的测试仿真 | 第41-42页 |
| ·共模抑制比K_(CMR)的测试仿真 | 第42-43页 |
| ·输出峰-峰电压Vopp测试仿真 | 第43-44页 |
| ·LM555电路测试及仿真实现 | 第44-47页 |
| ·数/模、模/数(D/A、A/D)电路测试及仿真实现 | 第47-53页 |
| ·D/A、A/D电路测试的原理 | 第47-48页 |
| ·D/A、A/D电路测试的方法及分析 | 第48-49页 |
| ·DAC(数模转换器)的特性测试参数 | 第48页 |
| ·ADC(模数转换器)的特性测试参数 | 第48-49页 |
| ·D/A、A/D电路测试的仿真实现 | 第49-53页 |
| ·电压型 DAC(VDAC)功能实现 | 第49-50页 |
| ·电流型 DAC(IDAC)功能实现 | 第50-51页 |
| ·ADC、DAC功能实现 | 第51-53页 |
| 4 测试仿真在故障分析中的应用 | 第53-60页 |
| ·集成电路的故障分析与定位 | 第53-55页 |
| ·电路故障诊断技术的发展 | 第53-54页 |
| ·数字电路系统的测试和故障诊断 | 第53-54页 |
| ·模拟电路及数模混合电路的故障诊断现状 | 第54页 |
| ·EDA是获得故障定位的有力工具 | 第54-55页 |
| ·故障的仿真分析 | 第55-60页 |
| ·器件故障的分类 | 第55页 |
| ·故障仿真的一般过程 | 第55-60页 |
| 5 总结和展望 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 附录 | 第63-69页 |
| 附录A 74160推荐工作条件 | 第63-64页 |
| 附录B 74151的特性参数 | 第64-65页 |
| 附录C LM7805的特性参数 | 第65-67页 |
| 附录D LM741的性能参数 | 第67-69页 |
| 参考文献列表 | 第69-71页 |