MMC HOST控制器可测性设计

摘要	第1-4页
Abstract	第4-7页
第一章 绪论	第7-12页
·测试的概念和意义	第7-8页
·可测性设计技术概述	第8-11页
·故障检测的基本原理	第8-10页
·可测性设计的方法	第10-11页
·本论文结构	第11-12页
第二章 IEEE P1500 测试外壳技术	第12-30页
·SoC 测试概述	第12-13页
·SoC 测试外壳技术	第13-29页
·IEEE P1500 测试外壳的基本结构	第13-15页
·测试外壳的指令	第15-18页
·测试外壳串行端口（WSP）	第18-20页
·测试外壳指令寄存器（WIR）	第20-23页
·测试外壳旁路寄存器（WBY）	第23-24页
·测试外壳边界寄存器（WBR）	第24-27页
·测试外壳的状态和时序	第27-29页
·IEEE P1500 SoC 测试体系	第29页
·本章小结	第29-30页
第三章 IP 核内部扫描技术	第30-38页
·基本扫描单元	第30-31页
·扫描链结构	第31-32页
·扫描链时序	第32-36页
·触发器的测试	第33-34页
·组合电路部分测试	第34-36页
·扫描链对电路性能的影响	第36-37页
·本章小结	第37-38页
第四章 MMC HOST 控制器可测试性设计	第38-59页
·MMC HOST 控制器介绍	第38-41页
·MMC HOST 控制器概述	第38页
·MMC HOST 控制器结构	第38-40页
·MMC HOST 控制器接口信号	第40-41页
·内部扫描设计	第41-49页
·不可控时钟处理	第41-43页
·黑盒（Black Box）模块的处理	第43-46页
·扫描链形成	第46-48页
·MMC HOST 控制器故障仿真	第48-49页
·P1500 测试外壳设计	第49-57页
·测试外壳旁路寄存器的设计	第49-51页
·测试外壳边界寄存器的设计	第51-52页
·测试外壳指令寄存器的设计	第52-56页
·测试外壳的整合及使用	第56-57页
·本章小结	第57-59页
第五章 结束语	第59-61页
致谢	第61-62页
参考文献	第62-65页
研究成果	第65-66页