芯片的测试向量转换技术研究与系统实现
| 摘要 | 第1-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-13页 |
| ·课题的技术背景与动因 | 第9-11页 |
| ·论文的结构与章节安排 | 第11-13页 |
| 第二章 测试开发系统概述 | 第13-20页 |
| ·测试转换系统概述 | 第14-18页 |
| ·设计到测试的转换 | 第15-16页 |
| ·测试到设计的转换 | 第16-17页 |
| ·测试到测试的转换 | 第17-18页 |
| ·测试程序开发环境 | 第18-20页 |
| ·系统结构 | 第19页 |
| ·系统特点 | 第19-20页 |
| 第三章 测试向量转换中的关键技术研究 | 第20-43页 |
| ·基于虚拟ATE 的测试向量转换模型 | 第20-22页 |
| ·现状分析 | 第20-21页 |
| ·虚拟ATE 转换模型 | 第21-22页 |
| ·波形中间格式和压缩编码 | 第22-34页 |
| ·测试语言发展和现状 | 第23-29页 |
| ·波形数据格式及其压缩编码算法 | 第29-32页 |
| ·基于波形文件的转换实例 | 第32-33页 |
| ·结论 | 第33-34页 |
| ·测试向量的周期化转换技术和算法 | 第34-43页 |
| ·测试向量周期化技术分析 | 第34-36页 |
| ·测试向量周期化技术实现 | 第36-40页 |
| ·实验数据 | 第40-42页 |
| ·结论 | 第42-43页 |
| 第四章 测试向量周期化转换子系统的设计与实现 | 第43-51页 |
| ·系统设计 | 第43页 |
| ·系统实现 | 第43-48页 |
| ·模块组成 | 第43-44页 |
| ·算法描述 | 第44-48页 |
| ·界面应用 | 第48-51页 |
| ·WaveSetGen 功能 | 第48页 |
| ·WaveSetGen 配置 | 第48-51页 |
| 第五章 测试向量转换系统的设计与实现 | 第51-63页 |
| ·系统背景 | 第51页 |
| ·现状分析 | 第51-55页 |
| ·基于三层结构的测试向量转换系统模型设计 | 第55-60页 |
| ·系统概述 | 第55-56页 |
| ·数据中心层 | 第56-57页 |
| ·应用服务层 | 第57-59页 |
| ·应用层 | 第59-60页 |
| ·系统实例应用 | 第60-62页 |
| ·总结 | 第62-63页 |
| 第六章 结束语 | 第63-66页 |
| ·主要工作总结 | 第63-64页 |
| ·进一步研究工作 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 作者简历 | 第71页 |
