| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 测试技术情况 | 第8-14页 |
| ·半导体测试产业现状 | 第8页 |
| ·集成电路测试的重要性 | 第8-9页 |
| ·国内外IC测试业的产业现状 | 第9-10页 |
| ·国内外 IC 测试业的市场状况 | 第10-11页 |
| ·测试的技术发展方向 | 第11-12页 |
| ·本课题研究重点 | 第12-14页 |
| 第二章 常用测试技术介绍 | 第14-20页 |
| ·测试及传统测试技术概述 | 第14页 |
| ·DFT---面向测试的设计思路 | 第14-17页 |
| ·基于扫描的 DFT 方法 | 第15-16页 |
| ·扫描设计的基本流程 | 第16页 |
| ·DFT 对芯片的影响 | 第16-17页 |
| ·传统的功能测试和 DFT 测试的比较 | 第17页 |
| ·扫描测试 SCAN | 第17页 |
| ·内建自测试 Built-in Self-test | 第17-18页 |
| ·IDDQ 测试 | 第18页 |
| ·DFT 技术面临的挑战及其发展趋势 | 第18-20页 |
| 第三章 微处理器, 微控制器介绍 | 第20-30页 |
| ·综述 | 第20页 |
| ·微处理器 CPU 发展简史 | 第20-22页 |
| ·INTEL 微处理器 | 第22页 |
| ·ARM 微处理器 | 第22-24页 |
| 3 .5 AMD 公司的微处理器简介 | 第24页 |
| ·飞思卡尔微处理器 | 第24-30页 |
| ·飞思卡尔的主要产品及其应用领域概述 | 第24-25页 |
| ·飞思卡尔的微控制器和微处理器产品 | 第25-30页 |
| ·飞思卡尔32 位处理器 | 第25页 |
| ·飞思卡尔16 位处理器 | 第25-26页 |
| ·飞思卡尔8 位处理器 | 第26-27页 |
| ·飞思卡尔产品的开发环境 | 第27页 |
| ·关于控制器延续兼容性的考虑 | 第27-30页 |
| 第四章 DFT 测试 | 第30-44页 |
| ·测试方法进化及相应的挑战 | 第30页 |
| ·DFT（Design for Test）方法 | 第30-31页 |
| ·数字集成电路DFT测试 | 第31页 |
| ·扫描测试 | 第31-38页 |
| ·引言扫描测试与传统测试 | 第31-32页 |
| ·扫描测试失效类型 | 第32-35页 |
| ·扫描测试失效类型的分类 | 第32-33页 |
| ·失效原因分析 | 第33-35页 |
| ·扫描测试理论 | 第35-37页 |
| ·扫描有效电路 | 第35-36页 |
| ·扫描操作 | 第36-37页 |
| ·扫描的分类 | 第37页 |
| ·其他扫描相关的内容 | 第37-38页 |
| ·内建自测试 | 第38-44页 |
| ·综述 | 第38-39页 |
| ·BIST 的优缺点 | 第39页 |
| ·BIST 技术分类 | 第39页 |
| ·存储器及其测试 | 第39-41页 |
| ·MEMORY BIST （MBIST） | 第41-44页 |
| 第五章 主题及软件结构设计矢量等 | 第44-69页 |
| ·飞思卡尔Star08 核的微控制器产品简介 | 第44-53页 |
| ·HCS08系列微控制器总体介绍 | 第44-45页 |
| ·HCS08 CPU编程模型 | 第45-46页 |
| ·外设模块 | 第46页 |
| ·中央处理单元 | 第46-47页 |
| ·工作模式 | 第47-50页 |
| ·简介 | 第47页 |
| ·特征 | 第47-48页 |
| ·运行模式 | 第48页 |
| ·背景调试模式 | 第48页 |
| ·等待模式 | 第48-49页 |
| ·停止模式 | 第49-50页 |
| ·片上存储器 | 第50-52页 |
| ·开发支持 | 第52-53页 |
| ·Star08R系列产品简介 | 第53-57页 |
| ·S08R家族的产品的目标应用 | 第53页 |
| ·S08R家族的产品的特点 | 第53页 |
| ·S08R家族成员 | 第53-54页 |
| ·MC9S08 RC/RD/RE/RG60存储映像 | 第54-55页 |
| ·复位和中断向量表 | 第55-56页 |
| ·MC9S08RC/RD/RE/RG60的安全性 | 第56-57页 |
| ·Star08R系列产品最终测试中所应用的扫描测试和内建自测试 | 第57-69页 |
| ·测试软件程序的实现 | 第57-63页 |
| ·测试软件整体结构 | 第57-60页 |
| ·扫描测试和内建自测试结构 | 第60-63页 |
| ·测试矢量文件的实现 | 第63-65页 |
| ·其它的辅助子程序（VBA 代码） | 第65-66页 |
| ·测试结果文件 | 第66-69页 |
| 第六章 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
