| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-12页 |
| ·混合信号测试发展简介 | 第6页 |
| ·测试在半导体制造生产中的重要地位 | 第6-7页 |
| ·混合信号测试系统的发展现状 | 第7-9页 |
| ·课题产生的背景和现实意义 | 第9-10页 |
| ·论文研究的内容 | 第10-12页 |
| 第二章 混合信号测试的基本参数与测试方法研究 | 第12-21页 |
| ·直流参数测试 | 第13-17页 |
| ·开路/短路测试 | 第13-14页 |
| ·漏电流（IIL,IIH,IOZ）测试 | 第14-16页 |
| ·IIL与IIH 测试 | 第15页 |
| ·IOZ测试 | 第15-16页 |
| ·输出驱动电流(VOL，VOH，IOL，IOH)测试 | 第16-17页 |
| ·VOH/IOH测试 | 第16页 |
| ·VOL/IOL测试 | 第16-17页 |
| ·电源电流测试 | 第17页 |
| ·转换电平(VIL，VIH)测试 | 第17页 |
| ·交流参数测试 | 第17-18页 |
| ·功能测试 | 第18-21页 |
| ·测试向量 | 第18页 |
| ·测试资源的消耗 | 第18-21页 |
| 第三章 基于DSP的混合信号测试 | 第21-32页 |
| ·基于小型机的传统模拟ATE系统 | 第21-22页 |
| ·基于DSP的混合信号测试系统 | 第22-24页 |
| ·基于DSP的测试技术与传统模拟测试技术的比较 | 第24-26页 |
| ·两种测试平台的介绍 | 第26-32页 |
| ·CATALYST测试平台 | 第26-29页 |
| ·FLEX测试平台 | 第29-32页 |
| 第四章 基于DSP的ADC参数测试 | 第32-50页 |
| ·ADC静态参数指标 | 第32-33页 |
| ·ADC动态参数指标 | 第33-34页 |
| ·基于DSP的混合信号测试中的采样与重建 | 第34-36页 |
| ·ADC测试遇到的实际问题及解决方法 | 第36-38页 |
| ·ADC参数测试方法与实现 | 第38-50页 |
| ·ADC的静态参数测试方法与实现 | 第39-44页 |
| ·ADC动态参数测试方法与实现 | 第44-50页 |
| 第五章 测试平台的转换与实现 | 第50-59页 |
| ·电源管理芯片ATLAS介绍 | 第50-52页 |
| ·测试平台转换 | 第52-59页 |
| ·程序转换 | 第54-56页 |
| ·负载板的制作 | 第56-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-62页 |
| ·总结 | 第59页 |
| ·展望 | 第59-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |