电路故障诊断可测性设计及低功耗测试研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题来源及研究目的和意义 | 第9-11页 |
| ·目前国内外的研究现状 | 第11-13页 |
| ·本文的主要工作 | 第13-14页 |
| 第二章 VLSI 电路测试的相关理论 | 第14-21页 |
| ·电路测试的相关概念 | 第14-16页 |
| ·测试 | 第14页 |
| ·故障 | 第14-16页 |
| ·测试生成 | 第16页 |
| ·测试效率 | 第16页 |
| ·可测性设计 | 第16-18页 |
| ·可测性的含义 | 第16-17页 |
| ·可测性的方法 | 第17页 |
| ·可测性分析 | 第17页 |
| ·常用的提高逻辑系统的可测性的方法 | 第17-18页 |
| ·低功耗技术研究的意义 | 第18-20页 |
| ·为什么需要低功耗设计 | 第18-19页 |
| ·测试期间高功耗的来源 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 电路故障诊断的可测性设计 | 第21-32页 |
| ·电流测试的基本概念 | 第21-22页 |
| ·故障诊断 | 第22-24页 |
| ·故障检测和故障定位 | 第22页 |
| ·故障仿真 | 第22-24页 |
| ·基于I_(DDQ) 的电路故障诊断的可测性设计 | 第24-31页 |
| ·电路故障诊断算法 | 第24-26页 |
| ·线性反馈移位寄存器 | 第26-29页 |
| ·仿真结果 | 第29-31页 |
| ·总结 | 第31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第四章 BIST 的原理和实现 | 第32-41页 |
| ·BIST 的测试原理 | 第32-35页 |
| ·BIST 实现的软硬件设计 | 第35-40页 |
| ·本章小节 | 第40-41页 |
| 第五章 低功耗的BIST 的概述和设计 | 第41-60页 |
| ·低功耗BIST 概述 | 第41-51页 |
| ·基本概念及功耗建模方法 | 第41-43页 |
| ·可测试性设计中功耗优化技术 | 第43-50页 |
| ·低功耗测试技术的发展趋势及需要注意的问题 | 第50-51页 |
| ·低功耗BIST 测试方案选择 | 第51页 |
| ·一种新的基于BIST 的低功耗产生器 | 第51-59页 |
| ·低功耗BIST 测试生成器 | 第51-53页 |
| ·采取模拟退火算法进行分组 | 第53-55页 |
| ·测试矢量的生成 | 第55-56页 |
| ·实验结果、讨论与结论 | 第56-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 结束语 | 第60-63页 |
| ·主要工作 | 第60-61页 |
| ·对今后工作的打算 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第69页 |
