| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-8页 |
| ·引言 | 第6页 |
| ·电子元件可靠性 | 第6-7页 |
| ·IC 失效分析概述 | 第7页 |
| ·课题背景、内容与意义 | 第7-8页 |
| 第二章 集成电路失效模式与机理 | 第8-17页 |
| ·失效模式 | 第8-9页 |
| ·失效机理 | 第9-17页 |
| ·电过力损伤EOS 与ESD | 第9-12页 |
| ·可动离子的自动恢复 | 第12-13页 |
| ·随机工艺缺陷和机械损伤 | 第13-17页 |
| 第三章 功能失效分析的方法与设备 | 第17-30页 |
| ·电性检测—CURVE TRACER | 第18-19页 |
| ·功能检测—MINITESTER/EVB | 第19-21页 |
| ·光辐射显微分析—LIGHT EMISSION MICROSCOPE | 第21-23页 |
| ·机械微探针测试—MECHANICAL MICROPROBE | 第23-24页 |
| ·微分析技术—SEM/FIB | 第24-26页 |
| ·芯片剥层技术 | 第26-30页 |
| 第四章 功能失效分析的主要流程 | 第30-31页 |
| 第五章 8BIT MCU 存储器及混合模块的分析 | 第31-75页 |
| ·Freescale 8bit MCU 简介及分析方法概述 | 第31-32页 |
| ·存储器电路的分析 | 第32-64页 |
| ·掩模ROM 的分析 | 第33-46页 |
| ·掩膜ROM 的两种存储机理和存储结构 | 第34-36页 |
| ·掩膜ROM 的失效模式和失效机理 | 第36-38页 |
| ·掩膜ROM 的失效分析实例 | 第38-46页 |
| ·EEPROM 的分析 | 第46-57页 |
| ·EEPROM 的存储机理和存储单元 | 第47-49页 |
| ·EEPROM 的可靠性问题和失效模式 | 第49-52页 |
| ·EEPROM 的失效分析实例 | 第52-57页 |
| ·SRAM 的分析 | 第57-64页 |
| ·SRAM 的存储机理和存储结构 | 第57-59页 |
| ·SRAM 的失效模式 | 第59-60页 |
| ·SRAM 的失效分析实例 | 第60-64页 |
| ·SAR ADC 的分析 | 第64-75页 |
| ·SAR ADC 的原理 | 第64-68页 |
| ·SAR ADC 的失效模式 | 第68-69页 |
| ·SAR ADC 的失效分析 | 第69-75页 |
| 第六章 结论和意义 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第79-80页 |
| 附录:Freescale 失效分析报告示例 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
