| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·本课题研究的背景、目的 | 第11-13页 |
| ·国内外研究状况 | 第13-15页 |
| ·本文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 系统级芯片的可测性分析及其系统建模 | 第17-31页 |
| ·故障模型 | 第17-20页 |
| ·故障以及它的物理表现形式 | 第17页 |
| ·故障的分类及其各种模型 | 第17-20页 |
| ·测试方法 | 第20-22页 |
| ·测试的相关概念 | 第20页 |
| ·测试类型 | 第20-22页 |
| ·故障测试的质量评价 | 第22页 |
| ·故障模拟 | 第22-25页 |
| ·故障模拟的基本概念 | 第22-23页 |
| ·故障模拟的应用 | 第23-24页 |
| ·故障模拟的方法 | 第24-25页 |
| ·测试生成 | 第25-31页 |
| ·测试生成概述 | 第25-26页 |
| ·测试生成算法中的一些基本的概念 | 第26-27页 |
| ·单路径敏化法 | 第27-28页 |
| ·D 算法 | 第28-31页 |
| 第3章 系统级芯片可测性设计方法 | 第31-45页 |
| ·可测性设计(DFT) | 第31-32页 |
| ·专用可测性设计技术 | 第32-33页 |
| ·扫描设计 | 第33-35页 |
| ·边界扫描测试 | 第35-38页 |
| ·背景 | 第35页 |
| ·边界扫描单元 | 第35-36页 |
| ·边界扫描结构 | 第36-38页 |
| ·内建自测试方法(BIST) | 第38-42页 |
| ·RAM BIST | 第39页 |
| ·ROM BIST | 第39-40页 |
| ·BIST 的 FPGA 实现 | 第40-42页 |
| ·IDDQ 测试 | 第42-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第4章 数模混合信号集成电路测试 | 第45-58页 |
| ·概况 | 第45-52页 |
| ·混合信号概况 | 第45-46页 |
| ·混合信号仿真策略 | 第46-49页 |
| ·VHDL-AMS 介绍 | 第49-52页 |
| ·混合信号测试总线1149.4 | 第52-54页 |
| ·基于DSP 的混合信号测试 | 第54-57页 |
| ·基于DSP 的测试 | 第54-55页 |
| ·混合信号电路测试方法 | 第55-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第5章 集成电路测试仪的研发 | 第58-69页 |
| ·集成电路测试仪的基本原理 | 第58页 |
| ·系统硬件电路组成 | 第58-59页 |
| ·激励源的产生 | 第59-60页 |
| ·PC 与DSP 通信的设计与实现 | 第60-63页 |
| ·通信模块硬件电路组成 | 第60-61页 |
| ·通信模块软件设计 | 第61-63页 |
| ·运算放大器的测试 | 第63-66页 |
| ·运算放大器的主要参数及其测试原理 | 第63-65页 |
| ·故障字典的建立 | 第65页 |
| ·硬件组成 | 第65-66页 |
| ·数字芯片的测试 | 第66-68页 |
| ·被测对象简介 | 第66-67页 |
| ·数字芯片测试原理 | 第67-68页 |
| ·小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第75-76页 |
| 附录 B BIST 的FPGA 实现源代码和测试程序 | 第76-80页 |