| 内容提要 | 第1-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-11页 |
| ·测试，测试的一般过程，测试的分类 | 第7-8页 |
| ·可测性设计及其研究的意义 | 第8-9页 |
| ·如何测试，测试的成本考虑 | 第9-10页 |
| ·如何测试 | 第9-10页 |
| ·测试的成本考虑 | 第10页 |
| ·VLSI 的发展对测试的影响 | 第10-11页 |
| 第二章 故障模型及可测性度量 | 第11-20页 |
| ·缺陷、失效和故障 | 第11-12页 |
| ·缺陷（defect） | 第11页 |
| ·失效（failure） | 第11页 |
| ·故障（fault） | 第11-12页 |
| ·故障、失效和缺陷的关系 | 第12页 |
| ·故障建模 | 第12-16页 |
| ·单固定故障（Single Stuck-At fault, SSA） | 第12-13页 |
| ·单固定故障的等价、故障压缩 | 第13-14页 |
| ·故障支配和检测点定理 | 第14-16页 |
| ·可测性度量（testability measure） | 第16-20页 |
| ·SCOAP 可控制性和可观察性 | 第16-20页 |
| 第三章 组合与时序电路测试矢量生成 | 第20-29页 |
| ·组合电路测试矢量生成 | 第20-28页 |
| ·功能测试与结构测试 | 第20页 |
| ·ATPG 代数及相关定义 | 第20-22页 |
| ·路径敏化法 | 第22-23页 |
| ·冗余识别 | 第23-24页 |
| ·D 算法 | 第24-28页 |
| ·时序电路测试矢量生成 | 第28-29页 |
| 第四章 扫描测试设计 | 第29-39页 |
| ·扫描单元和扫描链 | 第29-31页 |
| ·全扫描和部分扫描 | 第31-32页 |
| ·全扫描 | 第31页 |
| ·部分扫描 | 第31-32页 |
| ·扫描电路测试 | 第32-36页 |
| ·扫描单元的操作 | 第32-33页 |
| ·扫描测试的顺序 | 第33-35页 |
| ·扫描测试的时序 | 第35-36页 |
| ·多扫描链设计 | 第36-37页 |
| ·均衡扫描链 | 第37页 |
| ·借用功能接口 | 第37页 |
| ·扫描设计规则和扫描设计自动化 | 第37-39页 |
| ·扫描设计规则 | 第37-38页 |
| ·扫描设计自动化 | 第38-39页 |
| 第五章 存储器内建自测试 | 第39-51页 |
| ·存储器的分类 | 第39-40页 |
| ·故障模型 | 第40-44页 |
| ·简化的功能故障 | 第41-44页 |
| ·嵌入式存储器的测试方法 | 第44-49页 |
| ·嵌入式微处理器访问 | 第44-45页 |
| ·直接存储器访问 | 第45-46页 |
| ·存储器自建内测试（Memory BIST） | 第46-49页 |
| ·MBIST 算法 | 第49-51页 |
| 第六章 SOC 的DFT 实现 | 第51-65页 |
| ·项目简介 | 第51-52页 |
| ·基于嵌入式内核的SOC 的DFT 策略和工具 | 第52-55页 |
| ·DFT 规则 | 第55-59页 |
| ·妨碍扫描链插入的违例 | 第55-56页 |
| ·妨碍数据捕获的违例 | 第56-57页 |
| ·降低故障覆盖率的违例 | 第57-59页 |
| ·DFT 实现过程和步骤 | 第59-65页 |
| ·扫描插入 | 第59-62页 |
| ·ATPG | 第62-63页 |
| ·横向对比 | 第63-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 第七章 结论 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 摘要 | 第70-71页 |
| Abstract | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |