基于March C-算法的SRAM测试设计与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 引言 | 第9-11页 |
| 第1章 数字系统测试概述 | 第11-20页 |
| ·测试的意义 | 第11-13页 |
| ·测试的概述 | 第11页 |
| ·测试的意义 | 第11-13页 |
| ·测试成本 | 第13-14页 |
| ·可测性设计的要求 | 第14-18页 |
| ·可测性设计的重要性 | 第15-17页 |
| ·数字系统测试的代价 | 第17-18页 |
| ·可测性设计的意义 | 第18-20页 |
| 第2章 存储器概述 | 第20-23页 |
| ·常用存储器分类及应用场合 | 第20-21页 |
| ·SRAM的简介 | 第21-23页 |
| ·SRAM基本组成 | 第22页 |
| ·SRAM读出过程 | 第22页 |
| ·SRAM写入过程 | 第22-23页 |
| 第3章 存储器测试平台 | 第23-34页 |
| ·硬件测试平台 | 第23-26页 |
| ·软件平台 | 第26-34页 |
| ·Quartus II简介 | 第26-28页 |
| ·Modelsim简介 | 第28-29页 |
| ·VerilogHDL简介 | 第29-34页 |
| 第4章 存储器测试算法分析 | 第34-37页 |
| ·存储器的主要故障 | 第34页 |
| ·单个单元的故障模型 | 第34页 |
| ·单元之间的故障模型 | 第34页 |
| ·算法分析 | 第34-37页 |
| ·遍历算法 | 第34-35页 |
| ·Walking1/0算法 | 第35页 |
| ·面向字节的March C-算法 | 第35-37页 |
| 第5章 BIST电路设计 | 第37-46页 |
| ·存储器读写操作 | 第37-39页 |
| ·流程图设计 | 第39-41页 |
| ·数据通道设计 | 第41-43页 |
| ·状态机设计 | 第43-46页 |
| 第6章 BIST电路仿真 | 第46-50页 |
| 结论 | 第50-52页 |
| 1、课题成果总结 | 第50页 |
| 2、应用前景与经济价值的评价 | 第50-51页 |
| 3、下一步研究工作的展望 | 第51页 |
| 4、附录说明 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 附录1:状态机的部分代码 | 第54-56页 |
| 附录2:数据通道的部分代码 | 第56-57页 |
| 附录3:MIF文件的内容 | 第57-58页 |
| 附录4:测试的顶层文件 | 第58-59页 |
| 攻读学位期间公开发表论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 研究生履历 | 第61页 |
