| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-16页 |
| ·当前集成电路测试所面临的挑战 | 第12-14页 |
| ·集成电路发展趋势对测试的影响 | 第12-13页 |
| ·当前测试方法的局限性 | 第13-14页 |
| ·本文主要贡献 | 第14页 |
| ·本文组织结构 | 第14-16页 |
| 第2章 数字电路测试和遗传算法的基本理论 | 第16-32页 |
| ·数字电路测试基础 | 第16-23页 |
| ·故障和故障模型 | 第17-18页 |
| ·故障等价和故障精简 | 第18-20页 |
| ·测试生成 | 第20-22页 |
| ·故障模拟 | 第22-23页 |
| ·可测试性度量和常用可测试性设计方法 | 第23-27页 |
| ·扫描路径设计 | 第23-24页 |
| ·边界扫描技术 | 第24页 |
| ·内建自测试技术 | 第24-27页 |
| ·混合内建自测试技术 | 第27-28页 |
| ·遗传算法基础 | 第28-30页 |
| ·染色体编码 | 第29页 |
| ·群体设定 | 第29页 |
| ·适应性函数 | 第29页 |
| ·遗传算子 | 第29-30页 |
| ·遗传算法参数和收敛性 | 第30页 |
| ·测试生成与遗传算法的结合 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第3章 基于遗传算法的自动测试生成方法基本思想 | 第32-39页 |
| ·基本思想 | 第32-34页 |
| ·MINTEST 测试集介绍 | 第34页 |
| ·一些简化计算的方法 | 第34-38页 |
| ·故障覆盖率的估计 | 第35-36页 |
| ·减少备选节点 | 第36-37页 |
| ·关于种子向量 | 第37-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第4章 一种由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成算法 | 第39-54页 |
| ·算法介绍 | 第39-42页 |
| ·初步实验数据 | 第42-43页 |
| ·算法的改进 | 第43-44页 |
| ·重播种与更换反馈方式 | 第44-47页 |
| ·非分段重播种 | 第44-45页 |
| ·分段重播种 | 第45-46页 |
| ·更换反馈组合 | 第46-47页 |
| ·与MINTEST 测试集的结合 | 第47-49页 |
| ·与混合内建自测试对比 | 第49-51页 |
| ·面积开销的估算 | 第51-52页 |
| ·本方法与普通LFSR 方法的进一步比较 | 第52页 |
| ·分析与总结 | 第52-54页 |
| 今后有待研究的问题 | 第54-56页 |
| 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表的论文 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |