| 中文摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-8页 |
| 第一章 数字集成电路测试原理 | 第8-27页 |
| ·数字集成电路测试的基本概念 | 第8-11页 |
| ·不同测试目标的考虑 | 第8-9页 |
| ·直流参数测试 | 第9-10页 |
| ·交流参数测试 | 第10-11页 |
| ·存储器和逻辑芯片的测试 | 第11-17页 |
| ·存储器芯片测试介绍 | 第11-13页 |
| ·存储器芯片测试时用于错误检测的测试向量 | 第13-14页 |
| ·逻辑测试介绍 | 第14-17页 |
| ·混合信号芯片测试基础 | 第17-22页 |
| ·基于DSP 的测试技术 | 第17-18页 |
| ·混合信号测试介绍 | 第18-22页 |
| ·数字集成电路自动测试系统 | 第22-26页 |
| ·自动测试系统的基本组成 | 第22-23页 |
| ·IC 测试机的使用 | 第23-24页 |
| ·泰瑞达(Teradyne)J750 自动测试系统 | 第24-26页 |
| ·相关工作 | 第26页 |
| ·论文结构 | 第26-27页 |
| 第二章 电路测试、分析基础 | 第27-49页 |
| ·验证、模拟和测试 | 第27-30页 |
| ·验证 | 第27-28页 |
| ·产品测试 | 第28-30页 |
| ·故障及故障检测 | 第30-32页 |
| ·故障检测的基本原理 | 第30-31页 |
| ·测试图形生成 | 第31-32页 |
| ·缺陷、失效和故障 | 第32-38页 |
| ·物理缺陷 | 第34-36页 |
| ·失效方式 | 第36-37页 |
| ·故障 | 第37页 |
| ·故障、失效和缺陷的关系 | 第37-38页 |
| ·故障模型 | 第38-49页 |
| ·SSA 故障 | 第38-39页 |
| ·MSA 故障 | 第39-41页 |
| ·桥接故障 | 第41-43页 |
| ·短路与开路故障 | 第43-47页 |
| ·延迟故障 | 第47-48页 |
| ·暂时失效 | 第48-49页 |
| 第三章 内建自测试 | 第49-64页 |
| ·内建自测试的概念 | 第49-53页 |
| ·内建自测试简介 | 第49-50页 |
| ·内建自测试的结构 | 第50-51页 |
| ·内建自测试的测试生成 | 第51-53页 |
| ·响应数据压缩 | 第53-56页 |
| ·奇偶测试 | 第54页 |
| ·“1”计数 | 第54-55页 |
| ·跳变次数压缩 | 第55-56页 |
| ·特征分析法 | 第56-61页 |
| ·特征分析原理 | 第56-58页 |
| ·串行输人特征寄存器 | 第58-59页 |
| ·多输入的特征分析 | 第59-61页 |
| ·内建自测试的结构 | 第61-64页 |
| ·内建自测试 | 第61页 |
| ·自动测试 | 第61-62页 |
| ·循环内建自测试 | 第62-64页 |
| 第四章 电流测试 | 第64-79页 |
| ·电流测试简介 | 第64-67页 |
| ·IDDQ测试机理 | 第67-70页 |
| ·基本概念 | 第67-69页 |
| ·无故障电路的电流分析 | 第69-70页 |
| ·转换延迟 | 第70页 |
| ·IDDQ测试方法 | 第70-74页 |
| ·片外测试 | 第71-72页 |
| ·片内测试 | 第72-74页 |
| ·故障检测 | 第74-79页 |
| ·桥接 | 第75-76页 |
| ·栅氧 | 第76-77页 |
| ·开路故障 | 第77-79页 |
| 第五章 Freescale MCU及其测试 | 第79-94页 |
| ·嵌入式系统的基本含义 | 第79-80页 |
| ·嵌入式系统的由来 | 第79页 |
| ·MCU 的主要应用领域 | 第79-80页 |
| ·MCU 发展概况 | 第80-81页 |
| ·Freescale 08 系列MCU 概述 | 第81-84页 |
| ·08 系列 MCU 简介 | 第81-82页 |
| ·08 系列 MCU 资源简介 | 第82-83页 |
| ·HC08 系列MCU | 第83-84页 |
| ·Freescale 嵌入式数/模转换模块 | 第84-87页 |
| ·A/D 转换相关基础知 | 第84-85页 |
| ·A/D 转换模块的寄存器 | 第85-87页 |
| ·A/D 转换的自动测试设计 | 第87-94页 |
| 第六章 结论 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-99页 |
| 致谢 | 第99页 |