| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第8-10页 |
| ·国内外的研究现状 | 第10-12页 |
| 第二章 专用集成电路成测概述 | 第12-18页 |
| ·存储测试对测试装置的要求 | 第12-13页 |
| ·ASIC 在存储测试系统中的必要性 | 第13-14页 |
| ·对ASIC 系统进行测试的意义 | 第14-15页 |
| ·测试流程 | 第15-17页 |
| ·总结 | 第17-18页 |
| 第三章 专用集成电路 HB0201、HB0202 及其成品检测技术研究 | 第18-55页 |
| ·HB0201 概述 | 第18-27页 |
| ·HB0201 功能简述 | 第18-20页 |
| ·HB0201 成测要点 | 第20-27页 |
| ·HB0201 的成测设计 | 第27-41页 |
| ·检测总体设计 | 第27-28页 |
| ·各成测要点检测电路的实现 | 第28-35页 |
| ·检测的流程 | 第35-37页 |
| ·测试软件设计 | 第37-40页 |
| ·实测报告 | 第40-41页 |
| ·HB0202 概述 | 第41-47页 |
| ·HB0202 的功能简述 | 第41-44页 |
| ·HB0202 的成测要点 | 第44-47页 |
| ·HB0202 的成测设计 | 第47-55页 |
| ·检测总体设计 | 第47-48页 |
| ·各成测要点检测电路的实现 | 第48-50页 |
| ·检测流程 | 第50-52页 |
| ·检测软件设计 | 第52-53页 |
| ·实测报告 | 第53-55页 |
| 第四章 采用 HB0201 的放入式电子测压器设计 | 第55-68页 |
| ·总体方案的设计 | 第55-57页 |
| ·测试系统基本组成 | 第55-56页 |
| ·状态设计 | 第56-57页 |
| ·信号调理电路的设计原则 | 第57-67页 |
| ·电荷放大器的设计 | 第57-61页 |
| ·A/D 转换、存储器设计 | 第61-62页 |
| ·滤波器的设计 | 第62-63页 |
| ·电路设计中注意的问题 | 第63-65页 |
| ·负延迟存储原理 | 第65-67页 |
| ·应用及试验 | 第67-68页 |
| 第五章 采用 CPLD 代替ASIC 作控制器的讨论 | 第68-82页 |
| ·ASIC 的优点及缺点 | 第68页 |
| ·CPLD 作为控制部分 | 第68-80页 |
| ·CPLD 简介 | 第68-69页 |
| ·CPLD 各功能单元介绍 | 第69-80页 |
| ·采用CPLD 的存储测试装置 | 第80-82页 |
| 结论 | 第82-84页 |
| 附录 | 第84-88页 |
| 参考文献 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90-91页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第91页 |
